探針卡介紹

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探針卡(probe card)的使用在IC 測試過程中，是相當重要的工具，它是針測. 測試機與晶元(die)間相當重要的媒介工具，透過探針卡的探針與晶圓特定銲墊. (Pad)接觸，才能量得 ...

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探針卡（英語：Probe card）是晶圓與電子測試系統之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結，並完成晶圓測試 ...

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針對半導體元件電氣測試中使用的探針卡與接觸探針，說明其基礎知識與壽命，以及觀察、量測的重要性。此外也將介紹利用最新4K數位顯微鏡觀察的案例，以及非接觸3D尺寸量 ...

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(High Reliability)是判斷探針卡製造商. 新型探針卡技術介紹. 摘. 要. 探針卡(Probe Card)應用在積體電路(IC)尚未封裝前，針對裸晶係以探針(Probe)做功. 能測試，篩選出不 ...

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簡言之，探針卡是一測試機台與晶圓間之介面，每一種IC至少需一片相對應之探針卡，而測試的目的是使晶圓切割後使良品進入下一封裝製程並避免不良品繼續加工造成浪費，如(圖 ...

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探針卡是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）對IC的電氣性能進行測試。不合格的晶片會被標上記號，接著，當晶圓被切割成獨立的晶片之後，標有記號的不 ...