錫鬚測試：錫鬚現象
錫鬚(晶鬚)試驗解決方案
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錫鬚(晶鬚)試驗解決方案 · 1.光亮的錫容易有錫鬚生長 2-1.純錫表面容易受到自然晶體增長的攻擊 2-2.錫純度越高，形成錫鬚的機會就越大 · 02.各企業對於錫鬚的長度與試驗要求 ...
如何進行錫鬚(Whisker)試驗?
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其次是高溫高濕度試驗，其試驗條件為60ºC、85%RH，持續進行2000小時(約83天)。最後是常溫下放置試驗，試驗條件為3000小時(約125天)。實施試驗後，利用SEM (掃描式電子 ...
錫須試驗晶須試驗Tin Whisker inspection JEDEC 離子遷移 ...
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Tin whisker Inspection 錫鬚試驗規範JESD201 錫和錫合金表面處理的錫鬚易感性的環境接受度需求JESD22A121 錫和錫合金表面處理的錫鬚增長的測試方法JP002 當前通用的錫 ...
晶鬚的發生原因與試驗、觀察、評估的課題解決
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「晶鬚」會因各種原因而發生、生長，會造成電機機器與電子元件短路等問題，必須盡速採取對策。在此說明晶鬚的發生原因、成長機制和環境、各種評估試驗。
產品可靠度問題解析：為何「錫鬚」是造成戶外監視器故障的 ...
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相較於一般的品質驗證，可靠度驗證是一個比較花時間的過程，當廠商為了搶佔商機而試圖減少可靠度的驗證項目，選擇忽略長時間的高溫高濕試驗，這時候後就會漏掉了錫鬚的檢查 ...
锡须现象与分析
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锡须生长简单来说就是一种应力释放的现象。 就现在的研究结果来看，应力的形式简单可以分为三种应力类型：机械应力、热应力、化学应力 ...
锡须的特征与形态_JESD 22A121
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1、锡须的纵横比（长度/宽度）大于2 · 2、可以扭曲、弯曲或缠绕 · 3、通常具有一个均匀的横截面 · 4、通常由单个细丝组成，很少分支 · 5、在锡须周围有条纹状 ...
可靠度測試, RA, TCT, HAST
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錫鬚測試(Tin Whisker Test) ... 主要成因為電子元件中錫鍍層因留下的殘餘應力造成結晶突出生長，或是錫焊材於長時間溫度應力下造成的錫結晶突出。一般錫鬚形成速率相當緩慢 ...
綠色封裝製程對錫鬚生長影響因子之探討—以IC封裝電鍍 ...
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綠色無鉛產品的時代已經來臨，由於無鉛封裝電鍍純錫製程的導入將會產生錫鬚，若鬚鬚長度超過接腳的間距將碰觸到兩旁接腳，造成IC的短路進而使整個產品電性失效。