probe card介紹:探針卡接觸探針的觀察、量測
探針卡接觸探針的觀察、量測
Probe Card
https://www.twmjc.com.tw
A probe card is a jig used for electrical testing of an LSI (large-scale integrated circuit) chip on a wafer during the wafer test process in LSI manufacturing.
微探針的分析、設計與製造
https://ir.nctu.edu.tw
Probe card is very important equipment in IC test. It connected the Prober ... 2.2 ANSYS 軟體簡介……………...................................................5.
探針卡
https://zh.wikipedia.org
新型探針卡技術介紹
https://www.materialsnet.com.t
Epoxy Ring Probe Card、半自動焊接之MicroSpring Probe Card所面對之技術瓶. 頸,以及介紹積體化探針卡(Integrated Probe Card)目前發展現況,並與現有技術作. 一比較 ...
積體化探針卡技術介紹
https://www.ctimes.com.tw
探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,是積體電路製造中對製造成本影響 ...
積體化探針卡技術介紹
http://www.ctimes.com.tw
這類探針卡目前製造技術最先進是日本MJC,其最小間距可達35(m,如(圖五)所示。然這類Epoxy ring probe card雖具有製造時間短、少量、多樣及彈性製造等優勢,但仍有一些基本 ...