probe card介紹:微探針的分析、設計與製造

微探針的分析、設計與製造

微探針的分析、設計與製造

由蕭榜均著作·2007—ProbecardisveryimportantequipmentinICtest.ItconnectedtheProber...2.2ANSYS軟體簡介……………...................................................5.。其他文章還包含有:「ProbeCard」、「探針卡」、「探針卡接觸探針的觀察、量測」、「新型探針卡技術介紹」、「積體化探針卡技術介紹」、「積體化探針卡技術介紹」

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Probe Card
Probe Card

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A probe card is a jig used for electrical testing of an LSI (large-scale integrated circuit) chip on a wafer during the wafer test process in LSI manufacturing.

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探針卡
探針卡

https://zh.wikipedia.org

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探針卡接觸探針的觀察、量測
探針卡接觸探針的觀察、量測

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探針卡是在LSI製造的前製程中用於矽晶圓檢查製程的檢查器具,圓形的印刷電路板上裝備了一組經過精密組裝的探針接腳(探針)。 進行電氣測試時,會將這些配置於印刷電路板上 ...

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新型探針卡技術介紹
新型探針卡技術介紹

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Epoxy Ring Probe Card、半自動焊接之MicroSpring Probe Card所面對之技術瓶. 頸,以及介紹積體化探針卡(Integrated Probe Card)目前發展現況,並與現有技術作. 一比較 ...

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積體化探針卡技術介紹
積體化探針卡技術介紹

https://www.ctimes.com.tw

探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,是積體電路製造中對製造成本影響 ...

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積體化探針卡技術介紹
積體化探針卡技術介紹

http://www.ctimes.com.tw

這類探針卡目前製造技術最先進是日本MJC,其最小間距可達35(m,如(圖五)所示。然這類Epoxy ring probe card雖具有製造時間短、少量、多樣及彈性製造等優勢,但仍有一些基本 ...

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