metrology半導體
「metrology半導體」熱門搜尋資訊
KLA的半導體檢測帝國
https://www.redef.tech
具體來說，KLA在半導體領域提供的產品組合非常廣泛，從圖8 中我們可以看到，KLA提供了各種不同的檢測機台，如：. Mask Metrology / Inspection. Overlay / Thin Film ...
Metrology
https://www.horiba.com
HORIBA 的顆粒檢測和去除系統對於提高半導體光刻製程的產量至關重要。 這些系統能夠以高可靠性和長期穩定性檢測模版上的顆粒。 該系統可以精確且高通量地測量每個玻璃/ ...
Metrology Data Solution
https://www.hitachi-hightech.c
半導體製造装置 · CD-SEM & Defect Inspection; Metrology Data Solution. Metrology Data Solution ... Used Equipment (Metrology & Inspection). We sell the used ...
PVA TePla
http://www.teltec.asia
產品 · WSMS - 晶圓表面測量系統 · Munich Metrology 提供了最先進的，完全整合的VPD 測量系統。 · 全自動 · 最低的檢出限制 · 更快地取得測量結果 · 即時操作過程 · 通過精密，無 ...
VeritySEM 10 關鍵尺寸(CD) 量測
https://www.appliedmaterials.c
在半導體元件圖案測量方面，CD-SEM (臨界線寬掃描式電子顯微鏡) 常被稱為是「晶圓廠的標準」，因為這套系統能產生最精準的次奈米測量值。在微影成像機（lithography ...
半導體分析、圖像和計量資訊
https://www.thermofisher.com
... Semiconductor Analysis, Imaging, and Metrology Information. 提高半導體製造產能. 隨著對行動裝置、雲計算、物聯網(IoT)、汽車，人工智能和其他用途的需求增加，對 ...
半導體產業
https://www.precitec.com
3d-metrology Semiconductor Industry. CHRomatic 共焦線感測器CHRocodile CLS. 我們的CHRocodile 2 IT 產品系列可對晶圓、膠和塗層進行快速厚度測量，由此提高半導體的 ...
半導體計量學
https://www.anton-paar.com
半導體計量學. 如何改善晶圓製造流程並確保高品質的晶圓. 製造過程 · 找到您的解決 ... GISAXS是分析奈米結構半導體的寶貴工具 · 化學| CMP：漿料測量. 建議; 密度 · 黏度 ...
晶圓級檢測
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隨著當今半導體設計不斷變得更小和更密集，晶圓檢測的挑戰也在不斷升級。極小的特徵尺寸可能需要50X 或更高的物鏡放大倍率和高度可編程的頂部照明/背光，以及超高分辨 ...
量測與檢驗
https://www.appliedmaterials.c
除了度量和晶圆检测，芯片制造商还要依靠缺陷检查、分析和归类等技术，监控制造工序各步的完成质量。度量程序用于验证在制造工序的每一步，所制造的器件在物理和电学 ...