半導體量測
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低溫半導體量測分析系統
https://rpb26.nsysu.edu.tw
本量測系統適用於半導體電子材料、奈米元件之電性量測(I-V、C-V)，並且. 附加溫控系統做溫度調變，可用來分析電子元件之可靠度和電性機制。本平台可.
先進半導體製程量測技術提升晶片良率的幕後功臣
https://www.itri.org.tw
藉由實際製程量測驗證結果完善修正後的理論模擬平台，未來將可大量且快速的應用於製程參數量測最佳化設計及量測。預期能夠加速製程運作、降低雜訊，進一步提升產能速度（ ...
半導體
https://www.keyence.com.tw
半導體. 非接觸式量測的同時可記錄量測數據，進而確認設備本身的精度和定位。 無論鏡面還是非鏡面，都可以穩定量測。
多功能半導體量測分析系統收費標準
https://ora.nsysu.edu.tw
本量測系統適用於半導體電子材料、奈米元件之電性量測(I-V、 C-V)， 並且附加溫控系統做溫度調變，可用來分析電子元件之可靠度和電性機制。本平台提供RT~473K 之變溫量測 ...
晶片系統量測列表
https://www.tsri.org.tw
一般性儀器量測服務-新竹 ; 影像截取(晶片照相), 下載, 張恆茹 7192 ; 鋁線打線機SUB668, 下載, 張恆茹 7192 ; 雷射切割系統, 下載, 張恆茹 7192 ; 示波器(立肯LT584), 下載 ...
第三章元件製程與量測方法
https://ir.nctu.edu.tw
ρ 是半導體的的薄片電阻。 針對不同的接觸間距，d1、d2、d3、d4、d5，測量其全部電阻。然後對全部. 電阻RT與襯墊間的間距d做圖，如圖3-9 所示。其中有三個參數可從圖中 ...
第三類半導體功率元件究竟如何量測？電性測量及故障分析 ...
https://technews.tw
功率元件由於結構簡單，電性參數項目固定，市場上已有單一儀器可進行量測，電性參數在規格書定義得十分清楚，只要依照規格書的項目，便可逐一萃取各個項目 ...
量測與檢驗
https://www.appliedmaterials.c
量測與檢驗. 除了度量和晶圆检测，芯片制造商还要依靠缺陷检查、分析和归类等技术，监控制造工序各步的完成质量。度量程序用于验证在制造工序的每一步，所制造的器件在物理 ...
量測資訊第207期：半導體檢測與計量
https://www.nml.org.tw
本研究是開發被動式基材螢光薄膜厚度檢測技術，量測於固體基底上之超薄膜厚度。待測超薄膜的厚度是藉由基底激發且從待測超薄膜溢漏並穿隧出的螢光強度量測。量測中採取低的 ...