四點探針座
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Probe Station 四點探針量測儀 探 ...
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Analytical Probe Station/4點探針/探針量測儀. Manual Probe Station for wafer 8 /標準型8用 ; Platen：. 12 Micropositioner ; Microscope Stage：. 1 x1 Travel.
SR-4四點探針台
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四點探針台: 6,8,12 chuck available Lever Driven Up/Down 16 mm Travel Z Resolution 1 um Probe Pin Spacing 40 mil/50 mil/62.5 mil Probe Pin Diameter 40.6 ...
一般型四點探針座
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一般型四點探針座 · 具有完整同軸路徑的4 點探頭級，可實現系統抗噪性 · 四點探針頭：鈹銅鍍金 · 間距：1.6mm； 直徑：100um； 壓力：100g · 6 鐵氟龍隔離基板 · 手柄桿 ...
力回饋四點探針—薄膜電阻量測
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四點探針Four
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四點探針是最常用來量測薄片電阻的工具，只要在其中兩個探針間加上固定之電流，並同時. 量測另外兩個探針間之電壓差值，就可以計算出薄片電阻。一般而言， ...
四點探針台
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使用四點探針台,機台的手臂可快速更換模組式探針頭,探針頭將針尖間距及壓力參數固定,當探頭的探針點在基板上時, 附有內藏彈簧的探針會將四根針同時收縮,在固定的下壓應力使 ...
四點探針台台體(SR
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特點：. 可垂直上下移動; 特殊恆定負載的彈簧探針; 恆定的探針間距; 可保持極大程度的重複性測試; 探頭方便更換; 探針台頂部可調整Z軸移動; 穩固的連接線在探針台後面 ...
四點探針座
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各式量測應用之探針台/探針座，適用於：晶圓(直流電性、或高頻)量測；液晶面板量測；觸控面板ITO薄膜、導電高分子薄膜、矽晶片、太陽能電池薄膜、金屬薄膜等， ...
第一章四點探針電阻量測
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電阻量測最常見的方法就是用一個三用電表的兩根探針點在被測物件的兩. 端，然後從電表上就可讀到電阻。這是我們最常用來量一個電阻元件的電阻以.