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熱點分析原理

「熱點分析原理」文章包含有:「ArcGIS地理大数据模式识别之热点分析」、「ThermalEMMI(InSb)」、「【IC器件失效點定位方式的應用:光子激發與熱輻射偵測】...」、「建立熱點分析」、「微光顯微鏡(EMMI)」、「热点分析(Getis」、「热点分析(Getis」、「热点分析工作原理」、「熱點偵測」、「電性故障分析(EFA)」

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ArcGIS地理大数据模式识别之热点分析
ArcGIS地理大数据模式识别之热点分析

https://makeling.github.io

简单下个定义:“查找热点”是用来发掘数据特征在空间模式上是否存在任何统计显著性聚类的工具。 使用工具. 热点工具背后的原理稍复杂,但是使用上非常简单 ...

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Thermal EMMI (InSb)
Thermal EMMI (InSb)

https://www.istgroup.com

Thermal EMMI是利用InSb材質的偵測器,接收故障點通電後產生的熱輻射分布,藉此定位故障點(熱點、亮點Hot Spot)位置,同時利用故障點熱輻射傳導的時間差,即能預估IC ...

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【IC器件失效點定位方式的應用:光子激發與熱輻射偵測】 ...
【IC器件失效點定位方式的應用:光子激發與熱輻射偵測】 ...

http://www.vesp-tech.com

因此這篇文章我們會詳細探討(1)熱偵測的技術原理,及其(2)使用方式及 ... 一般熱點分析的應用是屬於會產生熱輻射波長範圍從2um-6um的缺陷IC器件常 ...

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建立熱點分析
建立熱點分析

https://www.ibm.com

熱點是地圖上彩色多邊形或圓圈的組合,這些多邊形或圓圈代表資料叢集。圓形熱點指出資料之間的相對距離,以及資料的相對密度。多邊形熱點指出包含所有資料的區域。

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微光顯微鏡(EMMI)
微光顯微鏡(EMMI)

https://www.istgroup.com

EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點(hot spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合元件(C-CCD)偵測器,可偵測元件中電子-電洞再 ...

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热点分析(Getis
热点分析(Getis

https://desktop.arcgis.com

热点分析工具可对数据集中的每一个要素计算Getis-Ord Gi* 统计(称为G-i-星号)。通过得到的z 得分和p 值,您可以知道高值或低值要素在空间上发生聚类的位置。

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热点分析(Getis
热点分析(Getis

https://blog.csdn.net

为数据集中的每个要素返回的Gi* 统计就是z 得分。对于具有显著统计学意义的正的z 得分,z 得分越高,高值(热点)的聚类就越紧密。对于统计学上的显著性负 ...

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热点分析工作原理
热点分析工作原理

https://pro.arcgis.com

聚类的程度由返回的z 得分确定。通常情况下,距离的增大(z 得分也增大)表示聚类增强。但是,对于某些特定距离,z 得分通常为峰值。峰值反映促进空间过程聚类最明显的距离 ...

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熱點偵測
熱點偵測

http://www.vesp-tech.com

熱點偵測-熱輻射故障定位顯微鏡(Thermal EMMI). 利用高靈敏度的InSb相機,在加電壓且利用Lock in的方式來偵測熱輻射的分佈,借此來定位失效位置,也利用熱傳播特性所 ...

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電性故障分析(EFA)
電性故障分析(EFA)

https://www.matek.com

其原理乃利用高靈敏度之InSb detector 偵測IC 在通電狀態下,缺陷位置所產生之熱輻射的分佈,藉以定位出失效所在位置,甚至可估算出熱源在縱深的距離,非常適合stacked die ...