粉末繞射原理

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當X-光照射在週期排列的原子時，個別原子受刺激後會如同點光源一樣放出電磁輻射，因為這些原子在空間中做週期性的排列，各原子放出的輻射會在空間中彼此互相干涉，造成只能在某些方向偵測到散射的X-光。反過來說，若能掌握散射X-光的分布，我們也可以反推原子週期排列的方式，也就是所謂的晶體結構。

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X 光繞射(XRD) 是一種多功能的非破壞性分析技術，可用於分析物理性質，如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學 ...

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原理. 編輯. X光的本質是一種電磁波，而電磁波能夠發生繞射，即繞開障礙物傳播。該方法 ... 粉末繞射通常用於鑑定未知物質，主要通過將繞射數據與繞射數據國際中心 ...

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本文將由X 光粉末多晶繞射分析技術出發，並藉由所獲得之晶體參數，介紹其延伸應用，以利. 讀者對於X 光晶體繞射有更深一層之認識。 X-ray diffraction is an important ...

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綜合以上，利用X光在晶體中繞射的物理現象就可以得知材料本身結構。所以可以透過不同的光學模組就可以分析粉末、塊材、塗層薄膜、加工過零件以及磊晶材料等。

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X光繞射儀（X-ray diffractometer，XRD）是利用X光繞射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X光和樣品交互，用生成的繞射圖譜來分析物質結構。

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定及分析,首先將古玉磨成粉末,透過X光繞射,觀測X射線穿過樣品後的散. 射強度為基礎,並根據散射角度、極化度和入射X光波長,測得礦物結構因子(d. 值)之後,將所得d 值與國際繞 ...