歐傑 電子 XPS:歐傑電子能譜儀
歐傑電子能譜儀
X光光電子暨歐傑電子能譜儀
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重要規格:(1) XPS (ESCA): X-ray光源: monochromatic X-ray source (Al Anode ) X光光束可設定範圍為200μm~900μm (2) 能量分析儀器:180°球面扇狀分析器(SSA)
光電子紫外光歐傑電子能譜儀ESCA
https://ncu.edu.tw
光電子/紫外光/歐傑電子/能譜儀ESCA. 儀器性能:. 1. Microfocus Monochromatic Al anode. X-ray (XPS, mapping ,depth profile). 2. 場發射電子槍(歐傑電子能譜) Field.
材料領域】X光光電子暨歐傑電子能譜儀(XPSAES)
https://ord.nycu.edu.tw
基礎服務-材料領域 · XPS (ESCA): · 能量分析儀器:180°球面扇狀分析器(SSA) · 離子源:Argon ion gun · 單槍式雙射源電荷補償:同一支射源能同時以低能電子和離子進行雙 ...
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(AESESCA)
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歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(AES/ESCA) · 儀器購置年月:2021年11月汰舊換新 · 加入貴儀年月:1983年12月 · 儀器經費來源:科技部、國立清華大學 · 廠牌及型號:ULVAC-PHI ...
歐傑電子分光儀之分析及應用
https://tpl.ncl.edu.tw
Photo-Electron Spectroscopy, XPS)及歐傑電子分光. 儀(Auger Electron Spectroscopy,AES)。各種分析儀. Bulk analysis. Thin film analysis. 100 nm. 10nm inm. 000.
歐傑電子能譜儀(AES)
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歐傑電子能譜儀(Auger,AES)是一種利用電子束作為激發源的高靈敏度表面分析(surface analysis)技術,樣品偵測深度小於10nm。AES具有奈米級單點分析以及極表面(<10nm)的 ...
歐傑電子能譜分析儀(FE
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A. XPS分析光源是以X-ray去激發樣品表面來偵測光電子;AES是以電子束分析樣品表面來偵測Auger電子,而電子束的beam size較小,所以針對分析區域小於30um的樣品(如chip上的 ...
歐傑電子顯微鏡與X光光電子能譜儀之表面分析特性
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在科技發達的時代,表面分析之檢測技術愈顯得重要,本文主要以應用層面較廣及檢測分析項目上相似度接近的歐傑電子顯微鏡(AES)與X光光電子能譜儀(XPS)分析技術來 ...