fdc半導體：半導體FDCCMS 監控系統
半導體FDCCMS 監控系統
產品介紹
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建構能運用AVM、R2R控制與良率改善(YMS/EDA) 等應用的資料來源，以完成工業4.0內的大數據分析基礎。 產品應用範圍. 面板CVD、ETC; 半導體PVD、ETCH; LED MOCVD; HBT MOCVD ...
產品介紹
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系統概述. 失效偵測與分類系統(FDC)可即時收集機台Temporal資料，並依製程狀態及需求分別提供單變量及多變量*分析、進行監控與異常偵測並減輕USER全面監控之負擔。
FDC 系統工程師
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新北市泰山區- FDC(Fault Detection Classification) 是一套偵測機台或產品異常的即...。薪資：待遇面議（經常性薪資達4萬元或以上）。職務類別：半導體工程師。
應用支援向量機建構半導體黃光升溫製程之FDC系統
https://ndltd.ncl.edu.tw
本研究應用支援向量機(Support Vector Machines, SVM)與決策樹(Decision Tree)為基礎，針對黃光區軟烘烤製程之溫度曲線建構FDC系統。
低良率問題的解決之道：從SPC到FDC的質量管理演進
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1.背景： 某半導體製造廠發現，在所有SPC指標均在規範內的情況下，產品良率依然偏低。經過初步分析，認為問題可能出在製程設備上。 2.實施FDC：工程師們 ...
先進製程控制技術發展趨勢
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從較簡單的失誤偵測與分類(Fault Detection and Classification，FDC)到需要複雜邏輯的批次間控制(Run-to-Run control， R2R)均已迅速從理論發展到實際的產品。本篇 ...
先進製程控管
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... 半導體製程良率與穩定的實踐手段，其通常由幾個工程系統構成：批次控制(R2R, Run-to-Run Control)，故障檢測和分類(FDC, Fault Detection and Classification) ...
半導體廠機台即時製程狀態變異偵測值之分析
https://ndltd.ncl.edu.tw
本研究以某半導體機台即時錯誤偵測與分類系統(Fault detection and classification system, FDC)所蒐集的大量即時製程狀態變異偵測值(Status variable identification, ...
成果報告資料顯示
http://www.etop.org.tw
近年許多半導體廠投入許多資源於先進製程控制系統(APC；Advanced Process Control)，在先進製程控制領域內，失效偵測與分類系統(FDC, Fault Detection ...