氧化薄膜厚度：膜厚Thickness-應用專區
膜厚Thickness-應用專區
以氧化鋁薄膜保護純銅之研究
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的氧化鋁薄膜，除了分析薄膜成長特性及其基本性質外，並探討該薄膜對純銅之氧化及腐蝕. 行為的影響。實驗結果顯示，ALD技術不但可精確地控制薄膜厚度外，所成長的薄膜 ...
固態源氧化膜
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氧化膜厚度是再PDS®擴散過程需要監測的最重要的參數。 它決定了器件質量，均勻性和固態源的使用壽命。 · 固態源應用基本上是管理可用於擴散的氧化物（B2O3 ...
工學院半導體材料與製程設備學程
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圖4-10薄膜厚度非均勻度對於SiH4 及NH3 氣體流量的反應曲面圖………58 ... 被使用在需要相對低溫的製程環境上[20]，如半導體製程中的氧化矽、氮化. 矽及氮氧化矽薄膜就 ...
氧化薄膜干涉之探討
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由自製干涉儀測出的干涉條紋間距來換算. 薄膜厚度變化，探討顏色週期性出現之原因。由實驗得知，膜厚的變化造成特定顏色建. 設性干涉，導致週期性顏色出現之現象。但膜厚 ...
氧化鋁鋅透明導電薄膜
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三種不同的薄膜厚度經過三種不同溫度退火處理，分別為200℃、. 300℃、400℃。 3.測量不同厚度及經過不同溫度退火的薄膜光學及電學性質.
氧化鎵薄膜厚度最佳化以及雙層薄膜複合元件製備
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本研究利用磁控濺鍍系統於室溫下分別製備不同厚度25、50、75、100以及150 nm之Ga2O3單層結構，並探討其應用於金屬/絕緣層/金屬結構之電阻式記憶元件所展現的電阻轉換 ...
薄膜
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當光學用薄膜材料（例如減反射膜消反射膜等）由數個不同厚度不同反射率的薄層複合而 ... 現階段對於一種被稱為多組分非晶重金屬陽離子氧化物的新型的無機氧化物材料的 ...
薄膜量測標準
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中，對薄膜厚度標準片校正之系統評估，此一校正系統提供二氧化矽薄膜厚度範圍為10~200nm之追溯校. 正服務。系統是以波長掃描範圍為250~850nm之分光式橢圓偏光儀，量測 ...