esd cdm測試方法：chap2
chap2
3.1 content
http://www.ics.ee.nctu.edu.tw
3.1.5 CDM的靜電放電測試 · Positive-mode:整顆IC處於浮接狀態， IC的基體. (Substrate)先被充電而具有正極性的電壓，然後該. IC的任一腳位以直接接地的方式放電；.
8.1 元件充電模式之防護設計(CDM ESD Protection)
http://www.ics.ee.nctu.edu.tw
8.1 元件充電模式之防護設計(CDM ESD Protection). 在前面章節中所提之靜電放電防護電路，大都是用來防護. 人體放電模式(HBM)與機器放電模式(MM)的靜電放電。基.
CDM测试（1）
https://zhuanlan.zhihu.com
前面的分享中，聊了ESD常用保护电路，并顺便提了HBM的测试。 ... 网上看到关于CDM的介绍比较少，今天主要聊一下CDM测试机台、测试方法、测试标准等。
ESD 模型及有关测试
https://picture.iczhiku.com
1 、 ESD 模型分类. 2 、 HBM 和MM 测试方法标准. 3 、 CDM 模型和测试方法标准. 4 、 EIC 模型和测试方法标准. 5 、 TLP 及其测试方法. 6 、拴锁测试. 7 、 I-V 测试.
ESD测试标准和方法
https://zhuanlan.zhihu.com
MM和HBM一样，都是外界带电体接触IC产品形成的放电现象，因此测试方法与HBM相同。 ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) TESTING REPOR. CDM模型：. 充电器件 ...
ESD靜電防護能力試驗- RAESD驗證
https://www.msscorps.com
MK.4TE：HBM最高8KV、MM最高可測2KV、Latch-Up最高可測100V/18A，最多可同時獨立上電7組電源，共有2304測試腳位。 • Orion3：CDM測試最高可輸出2KV，並可進行6GHz波形( ...
半導體產品ESD靜電防護能力測試
http://www.vesp-tech.com
充電放電測試(CDM，Charged Device Model)：此模式是指晶片先因磨擦或其他因素而在內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中並未被損傷。當此帶有靜電的晶片在使用時，其pin腳 ...
為何兩次的ESD測試結果會南轅北轍
https://www.istgroup.com
分為人體放電模式(Human-Body Model, HBM)、機器放電模式(Machine Model, MM)、元件充電模式(Charged-Device Model, CDM)。 ESD測試. 圖一:ESD各模式的 ...
靜電放電概論
https://www.esda.org
HBM 和CDM 測試方法中包含分級系統，用來界定元件對特定模型的敏感度（見表. 1 和表2）。分級有許多優點，它可根據元件的ESD 敏感度予以簡單分組和比較，也可作. 為元件ESD ...