故障分析手法：半导体故障分析

FA

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特色 · 提供客戶做IC元件失效分析、EFA（電性故障分析）、PFA（物性故障分析）等所需資源與設備。 · 提供客戶一步到位的分析服務。 · 提供第三方公正報告。

先進製程失效分析大解密！掌握關鍵技術，讓IC 上最細微的 ...

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本文章為閎康科技故障分析事業群何光澤處長撰寫，科技新報修編。） ... 晶背減薄在亮點定位上是常用的手法，尤其先進製程的金屬層高達十幾層，不易由 ...

哪種最適合我的樣品？晶片故障分析【宜特解你的痛EP.25】

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封裝印刷電路板、電子零件的故障分析與不良分析

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封裝印刷電路板的故障分析、不良分析有以下手法。 找出故障部位: 重現電氣故障，利用「鎖相紅外熱成像」等方法，特定電子零件、裝置等短路 ...

故障分析

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華證科技提供完善IC失效分析所需之EFA（電性故障分析）、PFA（物性故障分析）資源與設備；面對數種失效模式，華證的失效分析專家，具有豐厚的從業經驗與洞察力。

故障分析

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故障分析，又稱為故障診斷，是指為了確定故障原因以及如何防止其再次發生而收集和分析數據的過程。故障分析乃是製造行業眾多分支之中的一門重要學科。

故障分析FA 失效分析

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如何正確解讀分析結果，進一步判斷修改方向？宜特協助您透過量IV、點針、測電性、非破壞X-ray分析、故障點偵測、EMMI、InGaAs、OBIRCH、Thermal EMMI ...

故障樹分析法

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故障樹分析(Fault Tree Analysis，FTA)故障樹分析(FTA)技術是美國貝爾電報公司的電話實驗室於1962年開發的，它採用邏輯的方法，形象地進行危險的分析工作， ...