fa分析手法：失效分析(FA（分析術語）)

FA

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特色 · 提供客戶做IC元件失效分析、EFA（電性故障分析）、PFA（物性故障分析）等所需資源與設備。 · 提供客戶一步到位的分析服務。 · 提供第三方公正報告。

先進製程失效分析大解密！掌握關鍵技術，讓IC 上最細微的 ...

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晶背減薄在亮點定位上是常用的手法，尤其先進製程的金屬層高達十幾層，不易由晶片正面測得亮點，而封裝的方式也常採用覆晶式（flip-chip）的架構，再 ...

半导体故障分析

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故障分析(FA) 涉及通过大量的分析方法和技巧来了解TI 产品制造或应用过程中可能发生的问题。我们的FA 工程师或分析师有能力完成复杂的过程，因为他们具有丰富的物理、 ...

失效分析FA方法介绍

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失效分析（FA）是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的 ...

失效分析参考手册

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失效分析的思路、 原則與方法以及分析人員的素質. ... 失效模式與後果分析法（ FMEA） 與舉例. ... 檢查繞線力度與手法. OCL 不良. 繞線數目錯. 加強抽檢與控制.

失效模式分析

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失效模式分析（Failure Modes Analysis，FMA)失效模式分析指的是用來分析當前和以往過程的失效模式數據，以防止這些失效模式將來再發生的正式的結構化的程式。

失效模式與影響分析

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故障分析FA 失效分析

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針對百種IC 失效模式，如何選擇最正確的工具？如何正確解讀分析結果，進一步判斷修改方向？宜特協助您透過量IV、點針、測電性、非破壞X-ray分析、故障 ...