探針卡原理：微探針的分析、設計與製造

探針卡

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探針卡

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探針卡（英語：Probe card）是晶圓與電子測試系統之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結，並完成晶圓測試 ...

探針卡接觸探針的觀察、量測

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探針卡是在LSI製造的前製程中用於矽晶圓檢查製程的檢查器具，圓形的印刷電路板上裝備了一組經過精密組裝的探針接腳（探針）。 進行電氣測試時，會將這些配置於印刷電路板上 ...

新型探針卡技術介紹

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探針卡(Probe Card)應用在積體電. 路(IC)尚未封裝前，針對裸晶以探針. (Probe)做功能測試，篩選出不良品、. 再進行之後的封裝工程。因此，它是.

積體化探針卡技術介紹:Probe card

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簡言之，探針卡是一測試機台與晶圓間之介面，每一種IC至少需一片相對應之探針卡，而測試的目的是使晶圓切割後使良品進入下一封裝製程並避免不良品繼續加工造成浪費，如(圖 ...

高密度探針卡設計與製造

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探針卡是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）對IC的電氣性能進行測試。不合格的晶片會被標上記號，接著，當晶圓被切割成獨立的晶片之後，標有記號的不 ...