探針用途：中國探針股份有限公司

微探針的分析、設計與製造

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探針卡(probe card)的使用在IC 測試過程中，是相當重要的工具，它是針測. 測試機與晶元(die)間相當重要的媒介工具，透過探針卡的探針與晶圓特定銲墊. (Pad)接觸，才能量得 ...

探針卡

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探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具，透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後，將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性，判別 ...

探針卡

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探針卡（英語：Probe card）是晶圓與電子測試系統之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結，並完成晶圓測試 ...

探針卡接觸探針的觀察、量測

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探針材料

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探針直接與晶片上的銲墊或凸塊直接接觸，引出晶片訊號，再配合周邊測試儀器與軟體控制達到自動化量測的目的。 探針應用於晶片不良品的篩選，通過篩選的晶片良品才能再 ...

新型探針卡技術介紹

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探針卡(Probe Card)應用在積體電. 路(IC)尚未封裝前，針對裸晶以探針. (Probe)做功能測試，篩選出不良品、. 再進行之後的封裝工程。因此，它是.

晶圓測試探針卡設計與製造

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測試時，則是測試機通過探針卡上的探針與IC晶片上的銲墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸，構成測試迴路。測試機發出的訊號藉由探針的傳遞，送入晶片，再將晶片回饋資料傳送回 ...

積體化探針卡技術介紹

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探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本 ...