SEM EDS 深度：儀器設備技術手冊與訓練教材高解析掃描電子顯微鏡

SEM EDS能谱分析元素分析

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能谱EDS的采样深度大约为1 μm，可对试样微区内Be~U范围内的元素进行分析。根据扫描方式的不同可分为点扫、线扫和面扫。点扫和线扫都是对样品的某一 ...

SEM(掃描式電子顯微鏡)

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... EDS）. 偵測限制條件：0.1-1at%. 深度解析度：0.5-3µm（EDS）. 影像/mapping：是. 橫向解析度/偵測尺寸：15-45Å. 應用範圍. 高解析度圖像; 元素微量分析和顆粒特性. All ...

SEM测试能谱eds

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SEM與EDS分析是表面的成分嗎

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RE:分析深度取決於樣品本性和選用的參數，不同的加速電壓，穿透深度不一樣，電壓越高，X射線激發深度越深,通常5KV一個單位入射深度2-3個mirc. 電壓強度越 ...

X光光電子能譜儀(XPS)

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A. XPS主要分析表面約0~10nm的元素成份，且可以分析原子序3 (Li)以上的元素；EDS偵測元素深度約1~3um，偵測的原子序為5以上，且較輕的元素靈敏度不高。 EDS為半定量 ...

【求助】EDX的探测深度

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1、EDX的探测深度大约为1-3微米； · 2、探测深度可由加速电压控制。加速电压越低，探测深度就越浅，反之越深； · 3、入射电子能量降低到一定程度时，X射线 ...

了解SEM

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SEM的分辨率在水平方向取决于信号的逸出（分析）直径，而在深度方向则取决于信号的逸出（分析）深度，在样品和束流确定的情况下，分析直径和深度与电子 ...

能量色散X射线光谱学(EDS) 欧陆科技集团

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... SEM，TEM和STEM ... SEM采样深度： 0.1-3μm; STEM采样深度： 〜0.1微米（箔厚度）; 成像/绘图和线扫描： 有; 横向分辨率： 对于STEM-EDS为1-2 nm，对于SEM EDS为> = 0.1μm ...