探針卡探針：探針卡
探針卡
Probe Card
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應用獨創MEMS技術MEMS Probe「Micro Cantilever」以及使用「薄膜多層配線基板」製造技術之探針卡。 了解更多. Vertical-Probe. 垂直型針尖式探針卡。
微探針的分析、設計與製造
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探針卡(probe card)的使用在IC 測試過程中，是相當重要的工具，它是針測. 測試機與晶元(die)間相當重要的媒介工具，透過探針卡的探針與晶圓特定銲墊. (Pad)接觸，才能量得 ...
探針卡
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探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具，透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後，將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性，判別 ...
探針卡接觸探針的觀察、量測
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針對半導體元件電氣測試中使用的探針卡與接觸探針，說明其基礎知識與壽命，以及觀察、量測的重要性。此外也將介紹利用最新4K數位顯微鏡觀察的案例，以及非接觸3D尺寸量 ...
新型探針卡技術介紹
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探針卡(Probe Card)應用在積體電. 路(IC)尚未封裝前，針對裸晶以探針. (Probe)做功能測試，篩選出不良品、. 再進行之後的封裝工程。因此，它是.
晶圓測試探針卡設計與製造
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環氧樹酯環探針卡屬於懸臂樑式探針卡(Cantilever Probe Card)，其主要結構為印刷電路板(PCB)、探針（Needle）、環氧樹酯（Epoxy）和環型基座（Ring）等四部分所構成。
產品介紹
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Vertical Type Probe Card - VS Serie · 1.使用微型彈簧探針 · 2.可選擇探針頭之樣式(皇冠型頭、平頭、尖頭) · 3.可單獨更換1 pin探針 · 4.矩陣排列探針可對應多點測試 · 5 ...
積體化探針卡技術介紹
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簡言之，探針卡是一測試機台與晶圓間之介面，每一種IC至少需一片相對應之探針卡，而測試的目的是使晶圓切割後使良品進入下一封裝製程並避免不良品繼續加工造成浪費，如(圖 ...