tem晶格分析：電子顯微鏡及能譜分析
電子顯微鏡及能譜分析
淺談TEM 分析上常見的主要困惑
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TEM 機台進化至今，一般商售的TEM 機台基本上都同時有STEM 的功能，分辨率和. 解析度都優於0.2 奈米，足夠解析許多晶體的晶格間距，也就是集CTEM/AEM/HRTEM 於. 一機。筆者 ...
陳福榮教授_電子顯微鏡1
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晶體缺陷(差排,疊差,晶界,介面,析出物之分析及解釋. •6. 原子分辨電鏡(HRTEM). •7. 掃描透射電鏡(STEM). • 11. 相位電鏡(phase TEM). •10.環境電鏡(Environmental. TEM) ...
穿透式電子顯微鏡(TEM)
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TEM主要用於元素分析，藉由使用高能量電子束方式成像，是影像解析度可達0.1奈米原子等級的分析設備。可針對材料之顯微結構、晶格缺陷(dislocation)、 ...
原子解析度穿透式電子顯微鏡
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TEM 機台進化至今，一般商售的TEM 機台基本上都同時有STEM 的功能，分辨率和解析度都優於0.2 奈米，足夠解析許多晶體的晶格間距，也就是集CTEM/AEM/HRTEM 於一機。筆者傾向 ...
材料分析Part B
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第一類型暗場像用於分析晶體缺陷，影像中暗色背景區域和亮色特徵物屬同一晶粒。圖B-29(b)顯示一典型例子，差排造成晶體局部晶格 ... 圖B-30. 奈米多晶材料的 ...
穿透式電子顯微鏡（TEM）
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Q5. TEM 針對晶格方向分析其選區繞射(SAD) 最小可圈選範圍是多大? A. SAD最小圈選範圍是200nm，故當待測膜層厚度或晶粒尺寸大於200nm即可用SAD分析；若小於200nm則改用 ...
TEM暗場影像如何有效運用五大案例揭開TEM材料分析的 ...
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從此HRTEM影像的FFT圖案可以清楚看到，除了對應晶格面的繞射點外，還有一些從這些繞射點往特定方向延伸的條紋(streaks)。只用一組矩陣光罩選定所有繞 ...
在多晶鑽石基材上成長奈米平板鑽石
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經過從側向TEM 的分析結. 果指出，奈米平板鑽石其實是由許多平行於平板的雙晶層所組成的。 另外奈米平板鑽石的側面結構是由111}/100}等晶面所構成的凸角. 結構，異於 ...