pfa分析：導電式原子力顯微鏡在IC 製程及故障分析之應用
導電式原子力顯微鏡在IC 製程及故障分析之應用
FA
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特色 · 提供客戶做IC元件失效分析、EFA（電性故障分析）、PFA（物性故障分析）等所需資源與設備。 · 提供客戶一步到位的分析服務。 · 提供第三方公正報告。
先進製程失效分析大解密！掌握關鍵技術，讓IC 上最細微的 ...
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... PFA 分析資料庫。目前量測到12nm FinFET 的成功率接近百分之百，以AFM-based nano-probe 量測的好處是操作效率高，沒有電荷累積造成電性飄移的問題 ...
化性故障分析PFA
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華證科技為蔚華集團旗下之半導體電子產品第三方獨立驗證實驗室，致力於提供可靠性驗證(RA)、靜電防護能力測試(ESD/LU)、故障分析(FA) 、動態電性故障分析（Dynamic ...
失效分析
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提供客戶零元件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需資源與設備; 提供客戶一步到位的分析服務; 提供第三者公證報告. 可協助解決的故障分析的種類. ESD ...
故障分析
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華證科技提供完善IC失效分析所需之EFA（電性故障分析）、PFA（物性故障分析）資源與設備；面對數種失效模式，華證的失效分析專家，具有豐厚的從業經驗與洞察力。可替 ...
故障分析FA 失效分析
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... 協助您抓出失效點快又準. 驗退品分析; 產品瑕疵檢測; 可靠度分析後之失效模式分析. C/P, F/T, PCBA 後樣品分析; 第三方公正報告. 團隊專業. 經驗豐富 ...
故障分析實驗室
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華證科技故障分析實驗室提供包含EFA 與PFA 之實驗設備與工程技術支援之服務，以滿足顧客多面向化之需求。 華證科技之技術專家除提供設備服務外，並協助顧客新產品導入 ...
閎康提供全方位故障分析服務
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... 分析(EFA)，包括電性I-V 測試參數、靜電放電測試(ESD)、EMMI/InGaAs、OBIRCH等，以及第三階段的物性故障分析(PFA)，包括封裝去除(De-Cap)、層次去除 ...
預測性失敗分析(PFA)
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本文內容. Windows 硬體錯誤架構(WHEA) 支援ECC 記憶體的PFA) 預測性失敗分析(。 藉由使用PFA，WHEA 可以監視一或多個發生先前錯誤的ECC 記憶體頁面。