FA 分析流程:產品失效分析流程
產品失效分析流程
FA
http://www.hdmiatc-taiwan.com
C/P, F/T, PCBA 等流程後之樣品分析服務。 服務範疇. 聚焦離子束(FIB). FIB 電路修改. 點針墊偵錯. 晶背FIB電路修改. WLCSP電路修正. 故障分析. 非破壞分析. 故障點偵測.
Failure analysis
https://www.ti.com
TI's FA process discovers electrical and physical evidence to clearly identify the cause of failure through straightforward but sophisticated analytical ...
失效分析
https://www.calterah.com
失效分析(Failure Analysis or FA)主要是通过电性或物理手段,对失效芯片或模组分析失效的根因,以此确保新产品顺利导入量产,并持续改善量产产品的功能和品质。 加特兰 ...
失效分析(FA)
https://www.mpi.com.tw
成分检测_电分析
http://www.enrlb.com
失效分析(FA)是对已失效器件进行的一种事后检查。根据需要,采用电测试以及各种先进的物理、金相和化学分析技术,并结合元器件失效前后的具体情况及有关技术文件进行 ...
故障分析FA 失效分析
https://www.istgroup.com
宜特累積20多年來的解決方案,協助您抓出失效點快又準. 驗退品分析; 產品瑕疵檢測; 可靠度分析後之失效模式分析. C/P, F/T, PCBA 後樣品分析; 第三方公正報告. 團隊專業 ...
故障分析Failure Analysis
http://www.vesp-tech.com
隨著IC設計與製造流程的不斷演進,針對積體電路器件異常的失效分析(Failure Analysis)變得愈加重要,難度也愈加提升。於是在現代IC失效分析領域中,在成千上萬的電晶體 ...