四點探針校正因子：四點探針Four
四點探針Four
CN101331403B
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本发明涉及一种计算校正因子的方法，该校正因子用来减少用四点探针的电阻测量中的定位误差。该四点探针具有主体和每个都包括探针的四个探针臂，探针臂从主体平行延伸 ...
使用4点共线探测和6221直流和交流电流源测量电阻率并确定 ...
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1 校正因子可以在标准4点探针电阻率测试程序中查到(例如SEMI MF84-02————用4点共线探针. 测量硅圆片电阻率的测试方法。 此标准原由ASTM国际公布,名称为ASTM F 84-67T。) ...
利用4200A
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k* = 校正因子基于晶片的比率晶圆直径和晶片厚度的. 比率分离. * 校正因子可以在标准的四点探针电阻率测试程序中. 找到，如SEMIMF84-02 用四点探针测量硅晶片电. 阻率的 ...
四点探针系统
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快速材料表征- PC 软件(包括系统)执行所有必要的测量和计算薄片电阻，电阻率和电导率-使材料表征毫不费力。它还可以自动进行校正因子计算。 Page 4. 常见问题解答. 什么 ...
四點電阻率和電導率類型測量協議：MOST
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在決定校正係數時，矩形樣品應以長度平行於探頭尖端進行測試，寬度應取為d。s 是探針尖端之間的間距（對於U of L 設定為62.5 mils，CF2 是電阻率校正因子。CF2 在下表中 ...
微機電系統技術與應用
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四點探針量測(1) 的基本原理是利用霍爾效應 ... 其中A 為振幅，Q 為品質因子(quality factor)，此 ... 圖11.79 探針尖端校正示意圖。(a) NT-MDT 公司 ...
第一章四點探針電阻量測
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在量測完I、V 值之後，經過前文所引用的公式計算得到片. 電阻值，期望讀者在此計算的過程中，能對文中所探討的校正因子有深刻的印. 象。 1－4 實驗結果與討論要求. 參考 ...
霍爾效應分析儀應用
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1. 1. ) (. 1 cm qp p. ∙Ω. = μ ρ. ) (. 1 cm qn n. ∙Ω. = μ ρ. ○ 傳統使用四點探針量測電阻率：. ○ 當W<<d,. ○ 當d/s>20, CF(校正因子)≈4.54。 ) ( cm. CF. W. I. V.
高溫四點探針儀器負責人： 謝章興老師分機
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為校正因子(=4.532)；V 為通過電壓探針之直流電壓；I 為通過電流探針之固. 定的直流電流。 操. 作. 方. 法. 1. 開啟高溫四點探針電源。 2. 開啟冷卻水裝置。 3. 開啟電壓 ...