sem樣品前處理:SEM顯微鏡升級應用:原理與用途解析,液態材料檢測應用介紹
SEM顯微鏡升級應用:原理與用途解析,液態材料檢測應用介紹
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儀器設備技術手冊與訓練教材高解析掃描電子顯微鏡
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SEM的專業樣品前製備技術
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對非導電樣品前製備的方式包含: · 使用金屬材質的膠帶建立接地的連結,並在其周圍區域對樣品進行成像 · 使用金或是其他導電材料濺鍍樣品表面 · 在SEM低真空 ...
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電鏡樣品前製備技術-粉末顆粒之粒徑分析與檢測
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本篇介紹使用Phenom SEM桌上型電子顯微鏡觀測微奈米影像時,粉末樣品、顆粒樣品的前製備方法與工具,協助研究者在研究分析上能更有效且快速地看見樣品真實 ...
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電顯樣本前處理設備簡介
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LEICA 提供全面完善的電顯樣品製備解決方案,包括SEM / TEM ( 常溫與冷凍) 樣品製備,為生醫或工業材料, 半導體, 各領域的電顯應用提供完善的樣本製備結果。
![超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡CFE](https://i0.wp.com/api.multiavatar.com/%E8%B6%85%E9%AB%98%E8%A7%A3%E6%9E%90%E5%86%B7%E5%A0%B4%E7%99%BC%E5%B0%84%E6%8E%83%E6%8F%8F%E5%BC%8F%E9%9B%BB%E5%AD%90%E9%A1%AF%E5%BE%AE%E9%8F%A1CFE-SEM.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡CFE
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元素在樣品表面之二維分布影像分析. 樣本準備需知:. 1. 樣品不得具有磁性、毒性或輻射性。 2. 樣品須自行前處理乾淨,不得在真空下有揮發性物質放出。 3. 粉體樣品需先 ...
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