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「閎康sem」文章包含有：「MA」、「整合性分析」、「材料分析(MA)」、「樣品製備處理」、「穿透式電子顯微鏡（TEM）」、「聚焦離子束顯微鏡（FIB）」、「跨領域的整合！結合AI與材料分析的技術」、「電子顯微鏡(SEM)工程師(竹科)」、「電性故障分析(EFA)」
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MA
https://www.ma-tek.com
專業儀器操作，結合顧問與諮詢功能， 正確提供各種試片製備服務，歡迎洽詢！ 精確+準確，效率且有效。完整產品線的技術服務。服務: 元件電性故障分析, 元件物性故障 ...
整合性分析
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SEM成像及操作原理： 內容包含機台介紹及保養， 基本原理介紹， TEM 影像成像技術， EDX / WDX / BSE 分析介紹。 可靠度測試簡介：內容包含測試機台介紹，測試原理及 ...
材料分析(MA)
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SEM · 對所有類型樣品提供表面及橫截面微細結構觀察及分析。 · 針對多層結構樣品提供精準的膜厚量測及標示。 · 藉由EDS的X光譜線分析對材料做定性及半定量分析或特定區域的點 ...
樣品製備處理
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用SEM 進行表面觀察與分析時，需要面積較大且表面均一的觀察面，CP 的平面研磨方式可以滿足此要求。通過Flatmilling，可用於去除樣品的表層，或者機械研磨的後續加工流程。
穿透式電子顯微鏡（TEM）
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TEM 主要是將高能量電子束投射到超薄樣品上，產生立體角散射成像，可以用於觀察樣品的精細結構。為了有效提高影像解析度，在電子槍的架構上，無論是SEM 或TEM 的電子槍 ...
聚焦離子束顯微鏡（FIB）
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FIB 可以很精確地在需要做剖面切割的位置進行開挖，故障分析或是製程監控經常運用雙束FIB 進行特定點觀察，先以電子束影像（即SEM影像）來搜尋欲切割的位置，定位後再 ...
跨領域的整合！結合AI與材料分析的技術
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... 缺的技術，其主要目的是分析材料成份、結構、形貌等物理或化學特性，使用的技術除了 TEM 以外，還包括了 SEM (掃描電子顯微鏡，Scanning Electron ...
電子顯微鏡(SEM)工程師(竹科)
https://www.104.com.tw
新竹市- 1.IC Decap、De-layer 2.X-ray分析3.SEM分析4.光學顯微鏡操作5....。薪資：月薪34000~45000元。職務類別：實驗化驗人員、化工化學工程師、品管／檢驗人員。
電性故障分析(EFA)
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配合SEM 觀察可使探針與目標有更佳的接觸，使電性量測的環境更加穩定。 其操作電壓最低可至100eV，可以有效避免在試片內的電荷累積所產生的電性飄移問題。舉例來 ...