電性量測原理
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以量測電性特性。
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量測元件之電性參數及特性。量測原理是利用自動曲線追蹤儀電特性量測的方式，快速計算阻值，藉此確認各電路關係並即時篩檢出異常(Open/ Short/Leak/ High resistance).
分子科學研究所碩士論文
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分子科學研究所. 碩士論文. 單根三硒化二銻奈米柱之電性. 與其量測方法探討. Electrical properties of a Single Sb2Se3 Nanorod. And the measurement technique.
國立交通大學電子物理系碩士論文
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本論文主要是研究InAsSb/GaAs 單一量子點，改變InAsSb 量子點的. 厚度，利用電性與光性的量測方法，研究此種結構的特性。 而論文的章節安排如下: 第二章: 樣品製備與量測 ...
奈米電性之掃描探針量測技術
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本文介紹如何利用掃描力顯微鏡中之EFM、KFM、CFM、SCM、PFM 及SNDM 量測表面電性，. 包括表面電位、空間靜電荷、薄膜電容與壓電特性等，這些物理性質的奈米級量測與 ...
掃描探針顯微儀的電性應用及原理
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定性量測的應用可分為：(1) 電場式顯微. 儀，(2) 表面電位式顯微儀，(3) 掃描電容顯微儀，. 以及(4) 掃描延伸電阻顯微儀。其說明如下。 奈米檢測. 專題. Page 2. 46.
第一章四點探針電阻量測
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電阻量測最常見的方法就是用一個三用電表的兩根探針點在被測物件的兩. 端，然後從電表上就可讀到電阻。這是我們最常用來量一個電阻元件的電阻以.
第三章元件製程與量測方法
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平臺隔離(Mesa Isolation)通常是製作元件的第一步驟。平台隔離能夠定. 義主動區(active region)，進而控制一導電性薄片上表面區域的電流方向，使.
軟性顯示器電性檢測技術
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電性掃描探針顯微術簡介
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以下將. 簡述掃描電容顯微鏡的基本量測架構、原理、應用. 實例、試片製備與相關的研究課題，微分電容訊號. 分析的細節請讀者自行參考文末所附相關資料，在. 此不再贅述。 1 ...
電性故障分析(EFA)
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電性量測的目的，是為了驗證及量測半導體電子元件的參數與特性，如電壓-電流、電容-電壓特性曲線、電阻、電容、電感值量測或訊號波形等，藉此了解元件的失效行為以推測 ...