afm原理
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AFM
http://web1.knvs.tp.edu.tw
AFM之探針一般由成份為Si或Si3N4懸臂樑及針尖所組成，針尖尖端直徑介於20至100nm之間。主要原理係藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂樑產生微細位移，以測得表面結構 ...
Chapter 2 實驗儀器構造與原理簡介
http://rportal.lib.ntnu.edu.tw
AFM 就是. 藉著原子間的作用力-凡德瓦力導致探針懸臂樑的形變、偏折程度，將雷射回饋訊號. 轉換為電流訊號，最後顯示出表面的形貌圖。因此將凡德瓦力作用形式與探針-樣品.
原子力顯微儀的原理(上)
https://www.tiri.narl.org.tw
首先介紹原子力顯微儀(atomic force microscope,. AFM) 技術的歷史與演變，其次是透過數理探討之. 方式，並配合實驗數據以及實際量測之經驗，來說.
原子力顯微鏡(AFM)
https://www.istgroup.com
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM），主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂樑產生微細位移，以測得樣品表面形貌起伏。AFM可應用於多種材料表面 ...
原子力顯微鏡
https://zh.wikipedia.org
AFM是在奈米尺度操作材料，及其成像和測量最重要的工具。 ... 利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的解析度。
原子力顯微鏡原理
http://web1.knvs.tp.edu.tw
原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）最大的差別在於並非利用電子隧道效應，而是利用原子之間的凡得瓦力（Van Der Waals Force）作用來呈現樣品的表面特性。 ... 若以 ...
原子力顯微鏡可以做些什麼?
https://web.phys.ntu.edu.tw
AFM的原理是利用針尖原子與樣品表面原子間微弱 的凡得瓦力作為回饋，從而得知樣品表面的高低 起伏。 凡得瓦力剛開始會有相吸的力量，若再更靠近一些則 反而會發生相斥力，此兩種力均可當做掃描模式。 作用力造成針尖 懸臂的偏移量,電腦便 可以轉換出樣品表面 的高低起伏.
導電式原子力顯微鏡(C
https://www.istgroup.com
... AFM原理類似，皆是利用探針針尖與樣品表面原子之間的作用力，呈現樣品表面形貌。但不同之處在於，C-AFM在掃描樣品時，能同步施加偏壓(Bias)，再由探針擷取電流得到電流 ...
掃描探針顯微術的原理及應用
https://www.phys.sinica.edu.tw
其他SPM 技術絕大部分. 是以AFM 為基礎，如：磁力顯微術(magnetic force microscopy, MFM)(4) 及近場光學顯微術(near-field scanning optical microscopy, NSOM 或SNOM)(5) ...
說明
https://zh.wikipedia.org
AFM的原理是利用針尖原子與樣品表面原子間微弱 的凡得瓦力作為回饋，從而得知樣品表面的高低 起伏。 凡得瓦力剛開始會有相吸的力量，若再更靠近一些則 反而會發生相斥力，此兩種力均可當做掃描模式。 作用力造成針尖 懸臂的偏移量,電腦便 可以轉換出樣品表面 的高低起伏.