c-afm分析
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AFM
https://www.msscorps.com
導電式原子力顯微鏡（Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM）是外加一組電流放大器於顯微鏡，然後以Contact Mode掃描試片表面，在取得高度訊號的同時，若是樣品 ...
C
https://www.matek.com
C-AFM · 技術原理 · 導電原子力顯微鏡(C-AFM) 以原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM) 為架構，並根據其探針與表面的作用方式，進而增加的功能選項之一。 · AFM 工作 ...
利用导电探针原子力显微镜（C
https://www.parksystems.cn
使用Park Systems开发的XEI软件对采集的图像进行分析，将采集到的信号映射到颜色表。对于形貌图像，阴影的强度与表面高度的变化相关，其中明亮和黑暗区域分别代表高区域和 ...
原子力顯微鏡(AFM)
https://www.istgroup.com
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM），主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂樑產生微細位移，以測得樣品表面形貌起伏。
导电原子力显微镜（C
https://www.bruker.com
C-AFM是源自“接触模式”的二次成像模式，可表征中等到低导电率和半导体材料的导电率变化。可用于对2pA至1µA范围内的电流进行测量和成像，同时采集形貌信息。
導電式原子力顯微鏡在IC 製程及故障分析之應用
https://www.tiri.narl.org.tw
本篇文. 章將詳盡地描述如何應用C-AFM 在接觸點的檢. 視，以及利用上述的電流成像和I/V 量測來幫助產. 品的故障分析。 二、實驗步驟. 1. AFM 的原理. 原子力顯微鏡主要是由 ...
掃描探針顯微儀的電性應用及原理
https://www.tiri.narl.org.tw
掃描探針顯微儀是原子力顯微儀(atomic force microscope, AFM) 應用系列的總稱，主要是應. 用於表面物性的量測。其最早僅是應用於表面三維影像的量測，如原子力顯微儀 ...
电性失效分析(EFA)
https://www.matek.com
C-AFM是使用探针接触模式在扫描试片，同时在针尖或试片上施予电压，因此我们可以在得到表面形貌图的同时也可获得各接触点的电流强度状况，进而可以比对且找出电性异常的 ...
第一章序論
https://ir.nctu.edu.tw
(conductive atomic force microscope, C-AFM)以及掃描表面電位 ... 章為樣品的置備與實驗流程，其次第四章為對樣品電性分析上的實驗. 結果與討論，最後第五章為結論 ...
電性掃描探針顯微鏡
https://www.materialsnet.com.t
（Conductive Atomic Force Microscope,. C-AFM，或直譯為導電原子力顯微鏡）. 等皆屬電性掃描探針顯微鏡。本文將. 針對掃描電容顯微鏡及掃描電流顯微.