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「cd-sem中文」文章包含有：「CD」、「CD」、「CD」、「VeritySEM10關鍵尺寸(CD)量測」、「全球半導體市場最新發展趨勢」、「應用材料公司最新電子束量測系統提升高數值孔徑極紫外光...」、「特征尺寸测量用扫描电子显微镜」、「特徵尺寸測量用掃描電子顯微鏡」、「臨界尺寸量測方法最佳化之研究」
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CD
https://zhuanlan.zhihu.com
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻译过来是：特征尺寸扫描电子显微镜。很多人听说过CD-SEM，第一反应是光刻工序中 ...
CD
https://www.elecfans.com
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻译过来是：特征尺寸扫描电子显微镜。很多人听说过CD-SEM，第一反应是光刻工序中 ...
CD
https://www.jendow.com.tw
CD-SEM（特徵尺寸測量用掃描電子顯微鏡）是一種根據圖像的灰度(grey-scale)來確定圖形的邊界，進而計算出線寬的掃描電子顯微鏡。測量圖形的尺寸，一般是依靠高解析度的 ...
VeritySEM 10 關鍵尺寸(CD) 量測
https://www.appliedmaterials.c
全球半導體市場最新發展趨勢
http://www.cs.nccu.edu.tw
微距-掃瞄式電子顯微鏡(Critical Dimonsion-Scanning Electron Mcroscopcs； CD-SEM)是以電子束來對晶圓表面狀況加以顯像與量測， 故可提供遠高於一般顯微鏡之解析度。 在 ...
應用材料公司最新電子束量測系統提升高數值孔徑極紫外光 ...
https://www.appliedmaterials.c
晶片製造商在微影成像機（lithography scanner）將圖案從光罩轉移到光阻後，可利用關鍵尺寸掃描式電子顯微鏡 （CD-SEM） 對其進行次奈米級的量測作業，並 ...
特征尺寸测量用扫描电子显微镜
https://m.baike.com
CD-SEM（特征尺寸测量用扫描电子显微镜）是一种根据图像的灰度(grey-scale)来确定图形的边界，进而计算出线宽的扫描电子显微镜。 基本信息. 中文名. 特征尺寸测量用扫描 ...
特徵尺寸測量用掃描電子顯微鏡
https://www.newton.com.tw
CD-SEM（特徵尺寸測量用掃描電子顯微鏡）是一種根據圖像的灰度(grey-scale)來確定圖形的邊界，進而計算出線寬的掃描電子顯微鏡。
臨界尺寸量測方法最佳化之研究
https://ir.nctu.edu.tw
在SEM 有限產能考量下，一般晶圓廠CD 量測. 點數會少於10 點/批，故本研究列舉的各種常見的CD 量測方法皆小於10. 點/批。影響ADI CD 要素如下：. 11. Page 23. (1)光罩( ...