晶 圓 外觀檢查機：AOI檢查機晶圓自動光學檢測設備，自動外觀檢查設備客製
AOI檢查機晶圓自動光學檢測設備，自動外觀檢查設備客製
Auto IR Inspection
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Auto IR Inspection · 產品介紹. 機台特性：. 花崗岩基座; 可支援8” & 12” 晶圓; 高解析度IR顯微鏡系統; 自動load/unload系統; 自動軟體判斷-隱崩檢測; 可用於recon後檢測.
Wafer Auto Inspection Machine (OM)全自動晶圓檢查機
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可因應不同產品更換或新增檢測項目。 · 上片後有晶圓對位機制。 · 自動尋邊功能可對應翹曲±2mm之晶圓。 · 影像辨識成功率高。 · 可結合上游測試機晶粒資料，合併後上傳至下一道 ...
晶圓外觀檢查機
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晶圓外觀自動檢查系統，整合光學及視覺專業技術，提供完善的解決方案，其穩定的模組化機構大幅縮減後勤維護時間，非常適合高品質低成本的檢測需求。多組LED 光源切換，可 ...
晶圓外觀檢查機
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檢. 測. 樣. 品. 樣品樣式, 晶圓玻璃基板. 尺寸範圍, 8“~12wafer. 精度要求, 最小檢出尺寸10╳10um. 檢測專案, 外觀缺陷檢查（外物沾黏、髒汙、龜裂、刮傷…等等）.
晶圓片外觀檢查機-羽昌科技股份有限公司
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晶圓片外觀檢查機. 簡介: 中空式XY軸線性馬達定位平台結合雷射探頭，可量測基板的厚度與翹曲，並結合影像量測裝置，進行外徑與瑕疵檢測。平台底部搭載LIFT PIN，自動頂 ...
牧德科技股份有限公司
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Wafer AVI是一套精心研發設計的自動外觀檢查系統，整合光學及視覺專業技術，提供完善的解決方案，其穩定的模組化機構大幅縮減後勤維護時間，非常適合高品質低成本的 ...
製程中晶圓外觀檢查系統Model 7945
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Chroma 7945製程中晶圓外觀檢查系統為自動化的切割前/後晶粒檢測設備。切割後晶粒可以同時間進行正反兩面的晶粒外觀檢查，使用可替換組件設計，能夠轉換未切割晶圓以及 ...