晶 圓 外觀檢查機
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AOI檢查機晶圓自動光學檢測設備,自動外觀檢查設備客製
https://www.tfct-aoi.com
自動外觀檢查機聚焦在晶片型電子元件外觀檢查系統,適用於電阻、LED、二極體和其他晶片型元件,經由專業AOI檢查機研發設計團隊,著力於創新研究晶圓自動光學檢測設備與 ...
![Auto IR Inspection](https://api.multiavatar.com/Auto+IR+Inspection+-+%E6%99%B6%E5%9C%93%E7%B4%85%E5%A4%96%E7%B7%9A%E6%AA%A2%E6%9F%A5%E6%A9%9F.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
Auto IR Inspection
https://www.yayatech.com
Auto IR Inspection · 產品介紹. 機台特性:. 花崗岩基座; 可支援8” & 12” 晶圓; 高解析度IR顯微鏡系統; 自動load/unload系統; 自動軟體判斷-隱崩檢測; 可用於recon後檢測.
![Wafer Auto Inspection Machine (OM)全自動晶圓檢查機](https://api.multiavatar.com/Wafer+Auto+Inspection+Machine+%28OM%29%E5%85%A8%E8%87%AA%E5%8B%95%E6%99%B6%E5%9C%93%E6%AA%A2%E6%9F%A5%E6%A9%9F.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
Wafer Auto Inspection Machine (OM)全自動晶圓檢查機
https://www.efctw.com
可因應不同產品更換或新增檢測項目。 · 上片後有晶圓對位機制。 · 自動尋邊功能可對應翹曲±2mm之晶圓。 · 影像辨識成功率高。 · 可結合上游測試機晶粒資料,合併後上傳至下一道 ...
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晶圓外觀檢查機
https://wenham.com.tw
晶圓外觀自動檢查系統,整合光學及視覺專業技術,提供完善的解決方案,其穩定的模組化機構大幅縮減後勤維護時間,非常適合高品質低成本的檢測需求。多組LED 光源切換,可 ...
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晶圓外觀檢查機
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檢. 測. 樣. 品. 樣品樣式, 晶圓玻璃基板. 尺寸範圍, 8“~12wafer. 精度要求, 最小檢出尺寸10╳10um. 檢測專案, 外觀缺陷檢查(外物沾黏、髒汙、龜裂、刮傷…等等).
![晶圓片外觀檢查機-羽昌科技股份有限公司](https://api.multiavatar.com/%E6%99%B6%E5%9C%93%E7%89%87%E5%A4%96%E8%A7%80%E6%AA%A2%E6%9F%A5%E6%A9%9F-%E7%BE%BD%E6%98%8C%E7%A7%91%E6%8A%80%E8%82%A1%E4%BB%BD%E6%9C%89%E9%99%90%E5%85%AC%E5%8F%B8-%E6%B8%9B%E6%8C%AF%E5%99%A8%2C%E6%B8%9B%E9%9C%87%E5%99%A8.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
晶圓片外觀檢查機-羽昌科技股份有限公司
https://www.euchang.com
晶圓片外觀檢查機. 簡介: 中空式XY軸線性馬達定位平台結合雷射探頭,可量測基板的厚度與翹曲,並結合影像量測裝置,進行外徑與瑕疵檢測。平台底部搭載LIFT PIN,自動頂 ...
![牧德科技股份有限公司](https://api.multiavatar.com/%E7%89%A7%E5%BE%B7%E7%A7%91%E6%8A%80%E8%82%A1%E4%BB%BD%E6%9C%89%E9%99%90%E5%85%AC%E5%8F%B8%EF%BD%9C%E6%99%B6%E5%9C%93%E5%A4%96%E8%A7%80%E6%AA%A2%E6%9F%A5%E6%A9%9F.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
牧德科技股份有限公司
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Wafer AVI是一套精心研發設計的自動外觀檢查系統,整合光學及視覺專業技術,提供完善的解決方案,其穩定的模組化機構大幅縮減後勤維護時間,非常適合高品質低成本的 ...
![製程中晶圓外觀檢查系統Model 7945](https://api.multiavatar.com/%E8%A3%BD%E7%A8%8B%E4%B8%AD%E6%99%B6%E5%9C%93%E5%A4%96%E8%A7%80%E6%AA%A2%E6%9F%A5%E7%B3%BB%E7%B5%B1Model+7945+-+Chroma+ATE.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
製程中晶圓外觀檢查系統Model 7945
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Chroma 7945製程中晶圓外觀檢查系統為自動化的切割前/後晶粒檢測設備。切割後晶粒可以同時間進行正反兩面的晶粒外觀檢查,使用可替換組件設計,能夠轉換未切割晶圓以及 ...