hot spot分析：如何速找IC漏電源(Hot Spot)
如何速找IC漏電源(Hot Spot)
微光顯微鏡(EMMI)
https://www.istgroup.com
EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合元件(C-CCD)偵測器，可偵測元件中電子－電洞再 ...
【IC器件失效點定位方式的應用：光子激發與熱輻射偵測】 ...
https://www.vesp-tech.com
IC器件異常缺陷的電流差異通常會以兩種方式呈現在IC器件上 (1) 一種為光子激發(2)另一種為熱輻射，這兩種是由不同的失效機理產生，所以必須使用可對應的偵測器才能有效找出 ...
建立熱點分析
https://www.ibm.com
熱點是地圖上彩色多邊形或圓圈的組合，這些多邊形或圓圈代表資料叢集。圓形熱點指出資料之間的相對距離，以及資料的相對密度。多邊形熱點指出包含所有資料的區域。
宜特小學堂：板階可靠度試驗後Fail 如何找先進封裝焊點異常
https://technews.tw
若異常型態為仍有電性（Short/Leakage），可用同一般封裝樣品故障分析形式，先使用Thermal EMMI（InSb）進行熱點分析，定位異常位置，並透過X-Ray/3D X-ray 顯像， ...
Hot Spot Spatial Analysis
https://www.publichealth.colum
Hotspot analysis is a spatial analysis and mapping technique interested in the identification of clustering of spatial phenomena. Read on to learn more.
熱點缺陷的檢測和管理
https://www.digitimes.com.tw
熱點是晶片內未能在晶圓上進行恰當圖案顯影的圖案類型。熱點缺陷可能會在晶圓上的每個晶片中重複產生(「重複缺陷」)，或者問題可能更加斷斷續續產生。
How Hot Spot Analysis (Getis
https://pro.arcgis.com
The Hot Spot Analysis tool calculates the Getis-Ord Gi* statistic (pronounced G-i-star) for each feature in a dataset. The resultant z-scores and p-values ...
Hotspot Analysis
https://carto.com
Hotspot analysis is a spatial analysis technique used to identify and evaluate statistically significant spatial clusters of high or low values in a dataset ...