probe card測試:晶圓測試探針卡設計與製造
晶圓測試探針卡設計與製造
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微探針的分析、設計與製造
https://ir.nctu.edu.tw
探針卡(probe card)的使用在IC 測試過程中,是相當重要的工具,它是針測. 測試機與晶元(die)間相當重要的媒介工具,透過探針卡的探針與晶圓特定銲墊. (Pad)接觸,才能量得 ...
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探針卡
https://zh.wikipedia.org
探針卡(英語:Probe card)是晶圓與電子測試系統之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結,並完成晶圓測試 ...
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探針卡接觸探針的觀察、量測
https://www.keyence.com.tw
針對半導體元件電氣測試中使用的探針卡與接觸探針,說明其基礎知識與壽命,以及觀察、量測的重要性。此外也將介紹利用最新4K數位顯微鏡觀察的案例,以及非接觸3D尺寸量 ...
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新型探針卡技術介紹
https://www.materialsnet.com.t
Probe Card for IC Testing. 探針卡(Probe Card)應用在積體電. 路(IC)尚未封裝前,針對裸晶以探針. (Probe)做功能測試,篩選出不良品、. 再進行之後的封裝工程。
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積體化探針卡技術介紹
https://www.ctimes.com.tw
探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,是積體電路製造中對製造成本影響 ...