probe card測試
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「probe card測試」文章包含有：「微探針的分析、設計與製造」、「探針卡」、「探針卡接觸探針的觀察、量測」、「新型探針卡技術介紹」、「晶圓測試探針卡設計與製造」、「積體化探針卡技術介紹」
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微探針的分析、設計與製造
https://ir.nctu.edu.tw
探針卡(probe card)的使用在IC 測試過程中，是相當重要的工具，它是針測. 測試機與晶元(die)間相當重要的媒介工具，透過探針卡的探針與晶圓特定銲墊. (Pad)接觸，才能量得 ...
探針卡
https://zh.wikipedia.org
探針卡（英語：Probe card）是晶圓與電子測試系統之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結，並完成晶圓測試 ...
探針卡接觸探針的觀察、量測
https://www.keyence.com.tw
針對半導體元件電氣測試中使用的探針卡與接觸探針，說明其基礎知識與壽命，以及觀察、量測的重要性。此外也將介紹利用最新4K數位顯微鏡觀察的案例，以及非接觸3D尺寸量 ...
新型探針卡技術介紹
https://www.materialsnet.com.t
Probe Card for IC Testing. 探針卡(Probe Card)應用在積體電. 路(IC)尚未封裝前，針對裸晶以探針. (Probe)做功能測試，篩選出不良品、. 再進行之後的封裝工程。
晶圓測試探針卡設計與製造
https://www.automan.tw
環氧樹酯環探針卡屬於懸臂樑式探針卡(Cantilever Probe Card)，其主要結構為印刷電路板(PCB)、探針（Needle）、環氧樹酯（Epoxy）和環型基座（Ring）等四 ...
積體化探針卡技術介紹
https://www.ctimes.com.tw
探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響 ...