片電阻量測：第一章四點探針電阻量測
第一章四點探針電阻量測
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分子科學研究所碩士論文
https://ir.nctu.edu.tw
片電阻(Sheet resistance). 對於薄膜樣品(特別是電阻率隨著厚度改變時)，通常我們量測的是片. 電阻而非塊體的電阻率。片電阻的定義是在一正方形薄片中兩平行端.
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四點探針儀器負責人
https://mse.mcut.edu.tw
利用四根探針接觸到薄膜表面，施加電流而量測電壓的改變值。通常四點探針排列在 ... ρ為薄膜電阻率(μΩ-cm)；Rs 為片電阻(Ω/□)；T 為鍍膜厚度(cm)；而C.F.為校正因.
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四點探針薄膜量測系統
http://www.keithlink.com
四點探針量測系統配備四點探針座、精密儀器、以及軟體，用以量測顯示試片的電阻、片電阻、體電阻率、電導率。適用於ITO膜/玻璃、ITO膜/軟性基板、ITO膜/矽晶、矽晶片、 ...
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四點探針電阻量測儀
https://sedc-r.ntust.edu.tw
儀器介紹／用途：四點探針法是測量薄膜電阻最常用的一種方法，利用外側兩探針間加固定電流，並同時量測另外兩個內探針間之相對電壓計算其電性。使用者可以經由輸入試片大小 ...
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極片電阻測試方法探究
https://www.iesttech.com
目前評估極片電阻常用的方法有單探針法、兩探針法、四探針法以及多探針法等；其中單探針法裝置是固定端子的一端置於樣品上，另一端連接樣品來測試 ...
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薄膜電阻
https://zh.wikipedia.org