片電阻量測：四點探針儀器負責人

分子科學研究所碩士論文

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片電阻(Sheet resistance). 對於薄膜樣品(特別是電阻率隨著厚度改變時)，通常我們量測的是片. 電阻而非塊體的電阻率。片電阻的定義是在一正方形薄片中兩平行端.

四點探針薄膜量測系統

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四點探針量測系統配備四點探針座、精密儀器、以及軟體，用以量測顯示試片的電阻、片電阻、體電阻率、電導率。適用於ITO膜/玻璃、ITO膜/軟性基板、ITO膜/矽晶、矽晶片、 ...

四點探針電阻量測儀

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儀器介紹／用途：四點探針法是測量薄膜電阻最常用的一種方法，利用外側兩探針間加固定電流，並同時量測另外兩個內探針間之相對電壓計算其電性。使用者可以經由輸入試片大小 ...

極片電阻測試方法探究

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目前評估極片電阻常用的方法有單探針法、兩探針法、四探針法以及多探針法等；其中單探針法裝置是固定端子的一端置於樣品上，另一端連接樣品來測試 ...

第一章四點探針電阻量測

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本實驗的內容包括:標準電阻的量測、矽基材片電阻及金屬薄膜片電阻量. 測。藉此標準電阻的量測期望讀者能夠了解，對不同阻值大小要有精確的量. 測，所必須外加的 ...

薄膜電阻

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