閎 康 XPS：歐傑電子能譜分析儀(FE
歐傑電子能譜分析儀(FE
MA
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X光光電子能譜儀(XPS)
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由於光電子來自於最表面的1nm-10nm，且XPS 具有化學鍵結分析的能力，能針對表面的異常分析得知其成份與鍵結訊息，如針對顏色異常、表面缺陷或金屬腐蝕進行分析。
X射線螢光分析儀(XRF)
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X射線螢光分析儀(XRF) ; 聯絡窗口 ; 台灣實驗室. 陳小姐. : +886-3-6116678 ext：3960. : +886-952-303-810. : [email protected]. 上海實驗室. 楊先生. : +86-21-5079-3616 ext ...
【閎康產學合作計畫】 閎康提供高階分析儀器服務
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為提升新元件與新材料在研發過程中的分析檢測品質，促進產業升級，閎康科技擬每年投入. 新台幣2000 萬元整，補助以開發 ... 雜質濃度檢測(SIMS, SRP, SCM, XPS, Auger).
二次離子質譜儀(SIMS)
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材料經由帶有能量的入射離子轟擊而產生二次離子，二次離子經加速後進入二次離子質譜分析系統運用電、磁場的偏轉將離子按不同質量分開，而達到成份分析的目的。
全產品分析項目
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表面分析(SA) · 二次離子質譜儀(SIMS) · 展阻分析儀(SRP) · 掃描式電容顯微鏡(SCM) · X光光電子能譜儀(XPS) · X射線螢光分析儀(XRF) · 歐傑電子能譜分析儀(FE-AES) · 原子力顯微鏡 ...
業務範疇
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二次離子質譜儀(SIMS) · 展阻分析儀(SRP) · 掃描式電容顯微鏡(SCM) · X光光電子能譜儀(XPS) · X射線螢光分析儀(XRF) · 歐傑電子能譜分析儀(FE-AES) · 原子力顯微鏡(AFM) ...
物理化學特性分析
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粒徑/粒徑分佈分析：DLS · 表面電位分析：Zeta Potential · 組成成分分析：TGA, DSC, FT-IR, XRD, UPLC, ICP-MS, LC/ MS/ MS (QQQ) · 表面化學分析：XPS · 表面積分析：BET ...
表面分析工程師全職
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【先選對產業，再跟對老闆!!「閎康」：檢測分析的龍頭，就是你最理想的選擇!】 1.負責操作SIMS、XPS、XRD、OM等相關儀器檢測樣品表層狀況，以避免後續異常狀況發生2.