半導體測試探針:彈簧探針

彈簧探針

彈簧探針

IC測試探針:專為半導體檢測,故使用彈簧探針。讓彈簧探針在測試廠出貨之前針對IC電性部份做全面性的接觸檢查。·PCB板檢查彈簧探針:為了檢查PCB板的探針,一般與針座一起 ...。其他文章還包含有:「千支探針把關晶片良率!直擊穎崴測試座產線"產能滿...」、「探針卡」、「探針卡接觸探針的觀察、量測」、「探針卡解決方案」、「新型探針卡技術介紹」、「晶圓測試探針卡設計與製造」、「測試治具及測試探針類別[設計製造&購買]」...

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千支探針把關晶片良率!直擊穎崴測試座產線"產能滿 ...
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探針卡
探針卡

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探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具,透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後,將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性,判別 ...

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探針卡接觸探針的觀察、量測
探針卡接觸探針的觀察、量測

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在此介紹半導體元件電氣測試中使用的檢查器具「探針卡」與「接觸探針」的基礎知識,以及利用有效的4K影像有效維持高檢查精度的檢查器具觀察與非接觸3D尺寸量測等最新 ...

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探針卡解決方案
探針卡解決方案

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中華精測憑藉「領先技術」、「卓越製造」及「前瞻性營運策略」提供全方位半導體測試介面服務。精測所提供的探針卡解決方案,在手機應用處理器、高效能運算晶片、網通 ...

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新型探針卡技術介紹
新型探針卡技術介紹

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半導體IC. 前言-. Probe Card for IC Testing. 探針卡(Probe Card)應用在積體電. 路(IC)尚未封裝前,針對裸晶以探針. (Probe)做功能測試,篩選出不良品、.

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晶圓測試探針卡設計與製造
晶圓測試探針卡設計與製造

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在半導體製程中,晶圓在前端製程完成但尚未進行後段切割封裝之前,必須先以探針卡對晶圓階段的IC進行電氣特性測試,除了可以將結果回饋給前段製程,進行微調,以確保晶圓的 ...

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測試治具及測試探針類別[設計製造& 購買]
測試治具及測試探針類別[設計製造& 購買]

https://www.ccpcontactprobes.c

中國探針擁有多年專業測試針及治具設計及製造經驗,提供多樣的測試針及治具類別,例如IC測試針、軟性電路板FPC、電池、記憶體解決方案。另外針對5G趨勢也提供77 GHz高 ...

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精研微科技股份有限公司
精研微科技股份有限公司

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1. 各式彈簧探針 2. 晶圓測試用探針卡 3. 高密度封裝測試用IC Test Socket 4. FPD(LCD、OLED)點燈測試用治具及機台 5. TAB MCM測試用治具 6. PCB功能測試用治具 ...