imd半導體:a. TEOS OX 製程b. W Polish 製程
a. TEOS OX 製程b. W Polish 製程
Case study 填縫能力是藉由晶粒缺陷來評估
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此研究主要使用六標準差方法去減少IMD製程的缺陷,並且達到最佳化的製程績效。 以一個在台灣的半導體製造公司做為案例,去證實六標準差方法是可行的。
Ch10 Chemical Vapor Deposition and Dielectric
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IMD: 屬層間介電質層;. PMD: 金屬沈積前的介電質層;. STI: 淺溝槽絕緣;. LDD: 低摻雜 ... 半導體. SiCl2H2 (DCS). Si (epi). SiCl3H (TCS). SiCl4 (Siltet). LPCVD. SiH4, O2.
TWI505431B
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個別裝置之金屬層的內連接一般包括了金屬間介電(inter-metal dielectric,IMD)層,其中藉由對矽晶圓表面上之薄膜進行大量且重複的沉積、圖案化及蝕刻步驟而形成內連 ...
低介電常數材料於積體電路
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本文將針對目前先進半導體製. 程,以及TFT-LCD製程中對低介電常. 數材料的應用及相關的整合問題做一. 系統的介紹。 低介電常數材料的基本特. 性與要求. 一般低介電常數材料 ...
低介電常數薄膜之檢測與製程整合技術探討
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先進半導體微電子產品的製造技. 術是藉著電晶體尺寸的不斷微縮與積. 集度的增加,來 ... 電絕緣層(Intermetal Dielectric; IMD),. 來降低在電容方面的延遲[2]。不過,. Low ...
化學氣相沉積與介電質薄膜
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的氧化物製程被廣泛地使用在半導體工. 業上,特別是在STI 和PMD 的應用上. • 傳送帶 ... • IMD 間隙填充和平坦化. • 兩種自旋塗佈矽玻璃: – 矽酸鹽(Silicate). – 矽氧烷 ...
半導體產業及製程
http://140.118.48.162
半導體產業及製程. TSMC. FAB14. 張永政. [email protected]. Page 2. e ... IMD-1. W. W. W. W. Metal-1. Metal-2. Page 26. e-Manufacturing. 26. 晶圓的尺寸所代表 ...
應用TRIZ方法與實驗設計進行半導體製程改善
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在半導體金屬導體連線技術,會利用蝕刻製程(etch)將金屬介電層(inter-metal dielectric,IMD)形成孔洞(via holes)後,填入金屬以形成連結每層平面金屬導電線路的垂直 ...
第十章介電質薄膜SiO
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IMD 或. ILD2. ARC. PD1. PD2. 側壁空間層. WCVD. TiN. CVD. ARC: 反射層鍍膜; IMD: 金屬層間介電質層; PMD: 金屬沈積前的介電質層;. STI: 淺溝槽絕緣; LDD: 低摻雜汲極; ...