懸臂式探針卡:懸臂式探針卡

懸臂式探針卡

懸臂式探針卡

懸臂式探針卡,也稱Epoxy探針卡。此技術是發展最早同時目前仍被廣泛使用技術。葳爾實業緊追著晶圓世代的前進與封裝技術的更新,無論是在更小間距(padpitch)、更 ...。其他文章還包含有:「STAr」、「垂直探針卡」、「懸臂式探針卡」、「懸臂式探針卡|全球頂尖技術」、「懸臂式與垂直式探針」、「探針卡」、「探針卡接觸探針的觀察、量測」、「晶圓測試探針卡設計與製造」

查看更多 離開網站

Provide From Google
STAr
STAr

http://www.teltec.asia

- 可依照客戶測試需求提供優化的設計. 射頻測試探針卡. - 高帶寬懸臂式探針卡的設計,可應用在工程和生. 產的高速(sub-ns 上升時間) 參數測試,如快速. BTI, 脈衝IV, 閃存 ...

Provide From Google
垂直探針卡
垂直探針卡

https://www.kyec.com.tw

垂直探針卡可克服傳統懸臂式探針卡的缺點,如:植針耐電流不足而燒針、高接腳數容易造成測試不穩的影響。 本公司擁有自主開發及製作垂直探針卡的技術,故在與目前業界垂直 ...

Provide From Google
懸臂式探針卡
懸臂式探針卡

http://www.mset.com.tw

PRODUCTS產品介紹. 產品明細. 懸臂式探針卡. 料號:-. 產品詳細介紹Product Introduction. 懸臂式探針卡. 產品注意事項Product Notes. 意洽誠鍚科技業務專線03-5121030.

Provide From Google
懸臂式探針卡| 全球頂尖技術
懸臂式探針卡| 全球頂尖技術

https://www.mpi.com.tw

MPI懸臂式探針卡廣泛應用於顯示驅動器、邏輯和記憶體裝置的金球焊墊和焊盤測試。MPI的懸臂式探針是對微小間距,且提供小尺寸焊墊、高速、少清潔、高同測數、高針數和超 ...

Provide From Google
懸臂式與垂直式探針
懸臂式與垂直式探針

https://www.gcmicro.com.tw

懸臂式探針. 半導體IC封測領域中,在晶圓片未切割成單一顆晶粒前,都需要進行在晶圓片階段的電性點測,而探針卡搭配各式規格的探針便提供此一功能。 探針材料. P7, H3C ...

Provide From Google
探針卡
探針卡

https://www.chpt.com

探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具,透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後,將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性,判別 ...

Provide From Google
探針卡接觸探針的觀察、量測
探針卡接觸探針的觀察、量測

https://www.keyence.com.tw

懸臂式探針卡. 這是將鎢等材質的針直接固定於印刷電路板的探針卡。 成本較垂直型低,能以更窄的間距排列探針,也可以因應鋁墊的需求。但接腳的配置限制比垂直型多,凹痕 ...

Provide From Google
晶圓測試探針卡設計與製造
晶圓測試探針卡設計與製造

https://www.automan.tw

環氧樹酯環探針卡屬於懸臂樑式探針卡(Cantilever Probe Card),其主要 ... 垂直式探針卡(Vertical probe card)又名為Cobra 探針卡,其主要由三個部分 ...