懸臂式探針卡：懸臂式探針卡
懸臂式探針卡
STAr
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- 可依照客戶測試需求提供優化的設計. 射頻測試探針卡. - 高帶寬懸臂式探針卡的設計，可應用在工程和生. 產的高速(sub-ns 上升時間) 參數測試,如快速. BTI, 脈衝IV, 閃存 ...
垂直探針卡
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垂直探針卡可克服傳統懸臂式探針卡的缺點，如：植針耐電流不足而燒針、高接腳數容易造成測試不穩的影響。 本公司擁有自主開發及製作垂直探針卡的技術，故在與目前業界垂直 ...
懸臂式探針卡
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懸臂式探針卡，也稱 Epoxy 探針卡。此技術是發展最早同時目前仍被廣泛使用技術。葳爾實業緊追著晶圓世代的前進與封裝技術的更新，無論是在更小間距(pad pitch)、更 ...
懸臂式探針卡| 全球頂尖技術
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MPI懸臂式探針卡廣泛應用於顯示驅動器、邏輯和記憶體裝置的金球焊墊和焊盤測試。MPI的懸臂式探針是對微小間距，且提供小尺寸焊墊、高速、少清潔、高同測數、高針數和超 ...
懸臂式與垂直式探針
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懸臂式探針. 半導體IC封測領域中，在晶圓片未切割成單一顆晶粒前，都需要進行在晶圓片階段的電性點測，而探針卡搭配各式規格的探針便提供此一功能。 探針材料. P7, H3C ...
探針卡
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探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具，透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後，將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性，判別 ...
探針卡接觸探針的觀察、量測
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懸臂式探針卡. 這是將鎢等材質的針直接固定於印刷電路板的探針卡。 成本較垂直型低，能以更窄的間距排列探針，也可以因應鋁墊的需求。但接腳的配置限制比垂直型多，凹痕 ...
晶圓測試探針卡設計與製造
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環氧樹酯環探針卡屬於懸臂樑式探針卡(Cantilever Probe Card)，其主要 ... 垂直式探針卡(Vertical probe card)又名為Cobra 探針卡，其主要由三個部分 ...