Toppan Photomask:Toppan Photomask與IBM簽署半導體EUV光罩聯合研發協議

Toppan Photomask與IBM簽署半導體EUV光罩聯合研發協議

Toppan Photomask與IBM簽署半導體EUV光罩聯合研發協議

2024年2月7日—東京2024年2月7日/美通社/--居於全球領先地位的半導體光罩供應商ToppanPhotomask宣布已與IBM就使用極紫外(EUV)光刻技術的2奈米(nm)節點邏輯半導體光罩 ...。其他文章還包含有:「ToppanPhotomask」、「ToppanPhotomask与IBM签署半导体EUV光掩模联合开发协议」、「ToppanPhotomask支持全球半導體產業和電子產業的發展。」、「企業概要」、「光掩模」

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2nm及更高節點的半導體量產需要先進的材料選擇和製程控制知識,這遠遠超出了使用ArF準分子雷射作為光源的傳統主流曝光技術的要求。IBM和ToppanPhotomask協議整合這些重要材料和流程控制技術,為2nm及更高節點的量產提供解決方案。IBM和ToppanPhotomask有著長久的技術合作歷史。2005年至2015年,IBM和ToppanPhotomask(當時的凸版印刷)一直共同推進先進半導體光罩的研究開發。聯合開發從45nm節點開始,範圍擴大到32nm、22/20nm、14nm節點,及初步的EUV研發活動。所累積的技術專長為全球半導體產業的發展做出了貢獻。此後,ToppanPhoto...