OBIRCH：Optical Beam Induced Resistance Change (OBIRCH)
Optical Beam Induced Resistance Change (OBIRCH)
EMMI和OBIRCH傻傻分不清？
https://zhuanlan.zhihu.com
OBIRCH正是基于半导体的这种效应的新型高分辨率微观缺陷定位技术，该技术依托于背面光发射显微镜，可以在大范围内准确并迅速定位集成电路中的微小失效点， ...
OBIRCH
https://www.msscorps.com
OBIRCH汎銓科技OBIRCH設備量充足，提供您迅速有效之分析服務！
名針探精準定位讓奈米電性量測找出缺陷
https://today.line.me
EBIRCH 的原理與雷射光束電阻異常偵測（OBIRCH）相同，差異只是在OBIRCH 所用的激發源為「雷射」，受限於雷射波長的關係，其空間解析度約為微米（µm ...
激光束电阻异常侦测(OBIRCH)
https://www.chinaisti.com
OBIRCH常用于芯片内部电阻异常(高阻抗/低阻抗)、及电路漏电路径分析。可快速对电路中缺陷定位，如金属线中的空洞、通孔(via)下的空洞，通孔底部高电阻区等，也能有效的检测 ...
电性失效分析(EFA)
https://www.matek.com
OBIRCH · 倒置式镜头，wafer level分析简易，有效控制下针范围与力道 · 提供更好的时效性，解决pad状况不佳，无法打上线等制样问题 · 搭配电路编辑，有效降低讯号引出线后new ...
雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)
https://www.istgroup.com
OBIRCH常用於晶片內部電阻異常(高阻抗/低阻抗)、及電路漏電路徑分析。可快速對電路中缺陷定位，如金屬線中的空洞、通孔(via)下的空洞，通孔底部高電阻區等，也能有效的檢測 ...
雷射光阻值變化偵測(OBIRCH)
http://www.vesp-tech.com
熱點偵測-雷射光阻值變化偵測 (OBIRCH). 主要利用雷射光束在IC表面掃描，雷射光束造成掃瞄區域內的材料被加熱，若IC中存在缺陷，附近區域的熱傳導不同於其它的完整 ...
電性故障分析(EFA)
https://www.matek.com
OBIRCH · 倒置式鏡頭，wafer level 分析簡易，有效控制下針範圍與力道 · 提供更好的時效性，解決pad 狀況不佳，無法打線等製樣問題 · 搭配電路編輯，有效降低訊號引出線後new ...