OBIRCH
「OBIRCH」熱門搜尋資訊
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「OBIRCH」文章包含有:「雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)」、「電性故障分析(EFA)」、「雷射光阻值變化偵測(OBIRCH)」、「OBIRCH」、「电性失效分析(EFA)」、「激光束电阻异常侦测(OBIRCH)」、「OpticalBeamInducedResistanceChange(OBIRCH)」、「EMMI和OBIRCH傻傻分不清?」、「名針探精準定位讓奈米電性量測找出缺陷」
查看更多![雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)](https://api.multiavatar.com/%E9%9B%B7%E5%B0%84%E5%85%89%E6%9D%9F%E9%9B%BB%E9%98%BB%E7%95%B0%E5%B8%B8%E5%81%B5%E6%B8%AC%28OBIRCH%29.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)
https://www.istgroup.com
OBIRCH常用於晶片內部電阻異常(高阻抗/低阻抗)、及電路漏電路徑分析。可快速對電路中缺陷定位,如金屬線中的空洞、通孔(via)下的空洞,通孔底部高電阻區等,也能有效的檢測 ...
![電性故障分析(EFA)](https://api.multiavatar.com/%E9%9B%BB%E6%80%A7%E6%95%85%E9%9A%9C%E5%88%86%E6%9E%90%28EFA%29.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
電性故障分析(EFA)
https://www.matek.com
OBIRCH · 倒置式鏡頭,wafer level 分析簡易,有效控制下針範圍與力道 · 提供更好的時效性,解決pad 狀況不佳,無法打線等製樣問題 · 搭配電路編輯,有效降低訊號引出線後new ...
![雷射光阻值變化偵測(OBIRCH)](https://api.multiavatar.com/%E9%9B%B7%E5%B0%84%E5%85%89%E9%98%BB%E5%80%BC%E8%AE%8A%E5%8C%96%E5%81%B5%E6%B8%AC%28OBIRCH%29+-+%E5%8D%8A%E5%B0%8E%E9%AB%94%E9%A9%97%E8%AD%89%E5%88%86%E6%9E%90%E6%9C%8D%E5%8B%99.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
雷射光阻值變化偵測(OBIRCH)
http://www.vesp-tech.com
熱點偵測-雷射光阻值變化偵測 (OBIRCH). 主要利用雷射光束在IC表面掃描,雷射光束造成掃瞄區域內的材料被加熱,若IC中存在缺陷,附近區域的熱傳導不同於其它的完整 ...
![OBIRCH](https://api.multiavatar.com/OBIRCH+-+%E6%95%85%E9%9A%9C%E5%88%86%E6%9E%90-+%E6%9C%8D%E5%8B%99%E9%A0%85%E7%9B%AE.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
OBIRCH
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OBIRCH汎銓科技OBIRCH設備量充足,提供您迅速有效之分析服務!
![电性失效分析(EFA)](https://api.multiavatar.com/%E7%94%B5%E6%80%A7%E5%A4%B1%E6%95%88%E5%88%86%E6%9E%90%28EFA%29.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
电性失效分析(EFA)
https://www.matek.com
OBIRCH · 倒置式镜头,wafer level分析简易,有效控制下针范围与力道 · 提供更好的时效性,解决pad状况不佳,无法打上线等制样问题 · 搭配电路编辑,有效降低讯号引出线后new ...
![激光束电阻异常侦测(OBIRCH)](https://api.multiavatar.com/%E6%BF%80%E5%85%89%E6%9D%9F%E7%94%B5%E9%98%BB%E5%BC%82%E5%B8%B8%E4%BE%A6%E6%B5%8B%28OBIRCH%29.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
激光束电阻异常侦测(OBIRCH)
https://www.chinaisti.com
OBIRCH常用于芯片内部电阻异常(高阻抗/低阻抗)、及电路漏电路径分析。可快速对电路中缺陷定位,如金属线中的空洞、通孔(via)下的空洞,通孔底部高电阻区等,也能有效的检测 ...
![Optical Beam Induced Resistance Change (OBIRCH)](https://api.multiavatar.com/Optical+Beam+Induced+Resistance+Change+%28OBIRCH%29.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
Optical Beam Induced Resistance Change (OBIRCH)
https://www.mst.or.jp
OBIRCH is a technique for determining the size and locating of defects by utilizing the fact that the resistivity changes due to the heating of the defective ...
![EMMI和OBIRCH傻傻分不清?](https://api.multiavatar.com/EMMI%E5%92%8COBIRCH%E5%82%BB%E5%82%BB%E5%88%86%E4%B8%8D%E6%B8%85%EF%BC%9F.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
EMMI和OBIRCH傻傻分不清?
https://zhuanlan.zhihu.com
OBIRCH正是基于半导体的这种效应的新型高分辨率微观缺陷定位技术,该技术依托于背面光发射显微镜,可以在大范围内准确并迅速定位集成电路中的微小失效点, ...
![名針探精準定位讓奈米電性量測找出缺陷](https://api.multiavatar.com/%E5%90%8D%E9%87%9D%E6%8E%A2%E7%B2%BE%E6%BA%96%E5%AE%9A%E4%BD%8D%E8%AE%93%E5%A5%88%E7%B1%B3%E9%9B%BB%E6%80%A7%E9%87%8F%E6%B8%AC%E6%89%BE%E5%87%BA%E7%BC%BA%E9%99%B7.png?apikey=viVnb6N20jclO8)
名針探精準定位讓奈米電性量測找出缺陷
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EBIRCH 的原理與雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)相同,差異只是在OBIRCH 所用的激發源為「雷射」,受限於雷射波長的關係,其空間解析度約為微米(µm ...