charge trapping中文:元件可靠度

元件可靠度

元件可靠度

成電荷陷入(ChargeTrapping)或介面狀態.產生(Interface-StateGeneration)(圖五)。這些在氧化層中的電荷會使得元件的特性.退化,例如臨界電壓(ThresholdVoltage ...。其他文章還包含有:「以堆疊式電荷儲存層提升快閃記憶體元件操作特性研究」、「具氧化鋅鋁奈米晶粒電荷捕捉層薄膜電晶體之...」、「快閃記憶體的路線之爭」、「藉由離子轟擊法增進NAND型非揮發記憶體之電荷捕捉釋放...」、「行政院國家科學委員會專題研究計畫...

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以堆疊式電荷儲存層提升快閃記憶體元件操作特性研究
以堆疊式電荷儲存層提升快閃記憶體元件操作特性研究

https://ndltd.ncl.edu.tw

論文名稱(外文):, Improved Operation Characteristics of Charge Trap Flash Memory Devices by Engineering Stacked Trapping Layer ... 中文. 論文頁數: 78. 論文摘要隨著 ...

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具氧化鋅鋁奈米晶粒電荷捕捉層薄膜電晶體之 ...
具氧化鋅鋁奈米晶粒電荷捕捉層薄膜電晶體之 ...

https://researchoutput.ncku.ed

本實驗以三種不同疊層結構之電荷捕捉式薄膜電晶體(charge trapping thin film transistor)試片探討元件內部電荷捕捉位置與其照光感測性質的關係。

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快閃記憶體的路線之爭
快閃記憶體的路線之爭

https://www.digitimes.com.tw

浮動閘極(floating gate)一派用多晶矽(polycrystalline),常用來做閘極的導電物質;電荷捕捉(charge trap)一派則用氮化矽(silicon nitride)此種絕緣體。

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藉由離子轟擊法增進NAND型非揮發記憶體之電荷捕捉釋放 ...
藉由離子轟擊法增進NAND型非揮發記憶體之電荷捕捉釋放 ...

https://ndltd.ncl.edu.tw

The analysis demonstrated that ion bombardment could improve the charge trapping/detrapping efficiency obviously. The program/erase speed was fast either. The ...

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行政院國家科學委員會專題研究計畫成果報告
行政院國家科學委員會專題研究計畫成果報告

http://www.etop.org.tw

一、中文摘要. 近年來快閃記憶體在非揮發性記憶體的 ... depth the trapping mechanisms of Charge Trapping ... the distributions of these localized charges to keep the ...

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邁向高密度儲存應用-鐵電記憶體的原理、挑戰與展望
邁向高密度儲存應用-鐵電記憶體的原理、挑戰與展望

https://www.matek.com

至於fatigue 則來自於反覆操作下於TiN 電極/HfO2 鐵電層介面處TiOx 所產生的氧空缺並造成電荷捕獲(charge trapping),如圖十所示,這些被捕獲的電荷可能 ...

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電荷陷阱式快閃記憶體元件中堆疊矽化鍺於穿隧氧化層與 ...
電荷陷阱式快閃記憶體元件中堆疊矽化鍺於穿隧氧化層與 ...

https://www.airitilibrary.com

繁體中文; English; 简体中文 ... Simulation of SiGe Stacked in Tunneling Layer and Charge Distribution of High-K Charge Trapping Layer in Charge-Trap Flash Device.

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高介電層閘極金氧半電晶體電應力產生之界面陷阱與氧化層電荷 ...
高介電層閘極金氧半電晶體電應力產生之界面陷阱與氧化層電荷 ...

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