探針卡結構

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本發明提出一探針結構，其包含：一金屬探針、一軟性絕緣管及一金屬層。金屬探針具有相對設置的一第一端部及一第二端部，而第一端部具有一尖端；軟性絕緣管具有一貫穿孔 ...

微探針的分析、設計與製造

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在IC 測試過程中，探針卡(Probe Card)是相當重要的媒介工具，它連接針測. 測試機(Prober and Tester)與晶圓(die)，透過探針卡上的探針與晶圓特定銲墊(Pad). 接觸，才能量得 ...

探針卡

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探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具，透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後，將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性，判別 ...

探針卡

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探針卡大致可分為懸臂型、垂直型以及MEMS 型，根據不同晶圓適用不同類型。 微機電系統是目前最先進的技術。 最先進的探測卡目前可以測試整個12吋晶片 。

探針卡接觸探針的觀察、量測

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探針卡的主要種類. 探針卡的探針排列與探針固定方法有幾種結構不同的類型。以下列舉兩種代表性的探針卡與特徵。 垂直（先進）式探針卡. 這是將有垂直固定的探針塊安裝於 ...

新型探針卡技術介紹

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一比較分析。 關鍵詞. 探針卡(Probe Card)、積體化探針卡(Integrated Probe Card)、微彈簧探針卡 ... 結構如圖九所示，這探針結構結合高. 深寬比光刻技術(High Aspect Ratio.

晶圓測試探針卡設計與製造

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環氧樹酯環探針卡屬於懸臂樑式探針卡(Cantilever Probe Card)，其主要結構為印刷電路板(PCB)、探針（Needle）、環氧樹酯（Epoxy）和環型基座（Ring）等四 ...

晶圓測試探針卡設計與製造

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環氧樹酯環探針卡屬於懸臂樑式探針卡(Cantilever Probe Card)，其主要結構為印刷電路板(PCB)、探針（Needle）、環氧樹酯（Epoxy）和環型基座（Ring）等四部分所構成。組裝 ...

積體化探針卡技術介紹

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探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響 ...

高密度探針卡設計與製造

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