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晶圓研磨製程

「晶圓研磨製程」文章包含有:「CMP是什麼意思?製程深入介紹,清楚瞭解技術與原理!」、「TAIKO製程」、「TWI447797B」、「TWI460780B」、「應用田口實驗設計方法改善半導體晶圓研磨製程之研究」、「晶圓研磨拋光均勻度不佳?」、「晶圓研磨薄化後使用電漿製程以增加晶片強度之方法」、「濕式拋光(如CMP等等)」

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CMP是什麼意思?製程深入介紹,清楚瞭解技術與原理!
CMP是什麼意思?製程深入介紹,清楚瞭解技術與原理!

https://www.otsuka-tw.com

所謂的CMP(化學機械研磨Chemical-Mechanical Polishing),是指使用研磨劑(Slurry),將晶圓減薄或是鏡面化的一道工藝。讓專業達人帶你一同揭秘, ...

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TAIKO製程
TAIKO製程

https://www.disco.co.jp

TAIKO製程,與以往的背面研磨不同,在對晶圓進行研磨時保留晶圓外圍的邊緣部份(約3 mm左右),只對圓內進行研磨薄型化之技術。 TAIKOプロセス ...

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TWI447797B
TWI447797B

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當使用如上所述的含有研磨粒的研磨液等來對矽晶圓進行研磨時,需要高加工精度及晶圓的平坦度。尤其於矽晶圓製程(process)的最終研磨步驟中的精研磨中,需要表面無缺陷且 ...

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TWI460780B
TWI460780B

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此外,在半導體晶圓上製造積體電路之後,會對半導體晶圓進行切割以形成多個晶片(chip)。一般來說,上述的切割製程通常是先於晶圓的正面貼附研磨貼片(grinding tape),並 ...

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應用田口實驗設計方法改善半導體晶圓研磨製程之研究
應用田口實驗設計方法改善半導體晶圓研磨製程之研究

https://ndltd.ncl.edu.tw

本研究主要是探討晶圓研磨薄化中的研磨製程(Grinding),主要是晶圓通過晶背研磨後厚度控制在客戶指定規格內。而拋光的製程在改善上製程所留下的細微缺點,並且提升晶圓的 ...

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晶圓研磨拋光均勻度不佳?
晶圓研磨拋光均勻度不佳?

https://www.goodtechnology.com

晶圓研磨及拋光製程決定晶圓最終厚度及表面粗糙度,製程中振動訊號過大,同樣會造成晶圓平整度不佳、表面粗糙度不佳、倒角異常、邊拋異常等結果,藉由機台監測, ...

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晶圓研磨薄化後使用電漿製程以增加晶片強度之方法
晶圓研磨薄化後使用電漿製程以增加晶片強度之方法

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本發明之晶圓研磨方法採用乾式拋光製程,可使晶圓具備較高的抗折強度。另一方面,在拋光製程後進行電漿製程並於晶圓的背側表面形成破壞紋路,破壞紋路可有效地吸附汙染雜質 ...

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濕式拋光(如CMP等等)
濕式拋光(如CMP等等)

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矽晶圓元件隨著IC封裝短小化,薄型化,內置晶粒也需要跟著薄化,因此為了提高強度,晶圓背面研磨後會進行應力釋放的製程。此外,用於高輝度LED藍寶石基板(Al2O3),高速 ...