euv光罩材質:Centura Tetra EUV 先進光罩蝕刻系統

Centura Tetra EUV 先進光罩蝕刻系統

Centura Tetra EUV 先進光罩蝕刻系統

CenturaTetraEUV系統藉由專門的設計,可針對EUV光罩製程中採用的新材料及複合薄膜堆疊進行蝕刻,能在以這種反射模式操作時,符合嚴格的圖案精度、表面平滑度和缺陷等 ...。其他文章還包含有:「TWI477927B」、「提升EUV微影製程良率新一代光罩檢測系統幫大忙」、「極紫外光微影之高階材料檢測分析」、「極紫外光微影光罩檢測技術」、「極紫外光微影製程」

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