ir om原理：什麼是紅外線(IR) ?

Ch 12

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傅立葉轉換紅外線光譜儀分析原理(FTIR)

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圖一是紅外線光譜儀基本結構，由紅外線燈源(IR source)發射出紅外線，紅外線穿透樣品(Sample)後，部分波長的紅外線會被吸收掉，沒被吸收的紅外線穿過樣品，抵達 ...

反射式光中斷器(Photointerrupter; ITR)物體偵測應用手冊

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原理說明：. ○ IR LED 為發射端，順向電流 ... 改善方式如圖四，把IR 的發射方. 式從DC 改為脈衝(Pulse)，然後PT 需分別偵測每次IR Off 及IR On 時的電壓值Vout(Off)及.

电性失效分析(EFA)

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技术原理. IR-OBIRCH的全名为InfraRed Optical Beam Induced Resistance Change，顾名思义为雷射光束引生的电阻变化异常检验，其原理是利用波长为1340nm的雷射扫描IC ...

紅外物鏡應用說明

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紅外物鏡的成像原理是利用物鏡接收被測目標的紅外輻射能量，並按原始空間有序分佈反射到紅外焦平面探測器的光敏元件上。 紅外探測器將紅外輻射能量轉換成電 ...

華證‧蔚博士懂你的疑惑！驗證小知識分享

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IR-OM(Infrared Microscope)的光源使用可以穿透矽材料的NIR(近紅外線),可穿透達650um的矽基板,參考圖2.因此可應用於背向EMMI/OBIRCH檢測, MEMS失效分析,矽基板器件失效分析 ...

超高解析度數位顯微鏡(3D OM)

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3D OM (3D Optical Microscope)原理是藉由一般可見光對物體表面之反射特性，透過光學的透鏡放大、縮小及CCD來擷取影像，可進行表面形貌的觀察與尺寸的分析量測。

雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)

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雷射光束電阻異常偵測(Optical Beam Induced Resistance Change，以下簡稱OBIRCH)，以雷射光在IC表面進行掃描，在IC功能測試期間，OBIRCH 利用雷射掃瞄IC 內部連接位置， ...

雷射致阻值變化偵測(OBIRCH)

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IR-OBIRCH 的全名為InfraRed Optical Beam Induced Resistance Change，顧名思義為雷射光束引生的電阻變化異常檢驗，其原理是利用波長為1340nm 的雷射掃描IC，造成掃描點 ...