probe card介紹：新型探針卡技術介紹
新型探針卡技術介紹
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Probe Card
https://www.twmjc.com.tw
A probe card is a jig used for electrical testing of an LSI (large-scale integrated circuit) chip on a wafer during the wafer test process in LSI manufacturing.
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微探針的分析、設計與製造
https://ir.nctu.edu.tw
Probe card is very important equipment in IC test. It connected the Prober ... 2.2 ANSYS 軟體簡介……………...................................................5.
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探針卡
https://zh.wikipedia.org
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探針卡接觸探針的觀察、量測
https://www.keyence.com.tw
探針卡是在LSI製造的前製程中用於矽晶圓檢查製程的檢查器具，圓形的印刷電路板上裝備了一組經過精密組裝的探針接腳（探針）。 進行電氣測試時，會將這些配置於印刷電路板上 ...
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積體化探針卡技術介紹
https://www.ctimes.com.tw
探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響 ...
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積體化探針卡技術介紹
http://www.ctimes.com.tw
這類探針卡目前製造技術最先進是日本MJC，其最小間距可達35(m，如(圖五)所示。然這類Epoxy ring probe card雖具有製造時間短、少量、多樣及彈性製造等優勢，但仍有一些基本 ...